Ослабление - интенсивность - излучение - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
Параноики тоже люди, и у них свои проблемы. Легко критиковать, но если бы все вокруг тебя ненавидели, ты бы тоже стал параноиком. Законы Мерфи (еще...)

Ослабление - интенсивность - излучение

Cтраница 3


Очевидно, при одной и той же толщине поглотителя в условиях широкого пучка будет происходить меньшее ослабление интенсивности излучения.  [31]

При осадительном титровании конечную точку можно также определять фотометрически; в этом случае суспензия твердого осадка вызывает ослабление интенсивности излучения вследствие рассеяния; титрование продолжают до появления постоянного помутнения.  [32]

После вычисления мощности дозы, создаваемой источником в отсутствие защиты, определяют необходимую толщину защиты по законам ослабления интенсивности излучения в данной среде.  [33]

Зависимость ( 1) предполагает пространственную однородность поля излучения в кристалле или нерегулярное строение ( искажение) кристалла и правильно описывает ослабление интенсивности излучения при его распространении в кристалле в произвольном ( не дифракционном) направлении. Если толщина кристалла d jio 1, то, согласно ( 1), излучение полностью поглощается в нем.  [34]

Для сравнительной оценки защитных свойств различных бетонов используют толщину слоя половинного ослабления Ту равную половине слоя защитного материала, необходимого для ослабления интенсивности излучения в 2 раза.  [35]

36 Принципиальные схемы датчиков с переменный ослаблением интенсивности излучения. [36]

В тех случаях, когда плотность вещества является однозначной функцией концентрации какого-либо компонента, входящего в состав данного вещества, по ослаблению интенсивности излучения можно судить о концентрации этого компонента. На указанном принципе основана работа некоторых типов концентратомеров. В датчиках с переменным ослаблением интенсивности излучения в зависимости от толщины и плотности поглощающего слоя можно применять как т -, так и р-источники.  [37]

При проведении анализа по спектрам поглощения исследуемое вещество располагают на пути пучка рентгеновских лучей, и о количественном содержании определяемого элемента судят по ослаблению интенсивности излучения. Этот метод очень прост. Однако он обладает относительно невысокой чувствительностью, которая тем больше, чем больше разница между поглощающей способностью атомов определяемого элемента и других элементов, входящих в состав исследуемого вещества. Достаточной чувствительности и точности анализа по этому методу удается достигнуть лишь при определении относительно тяжелых элементов в малопоглощающих средах. Иногда абсорбционные методы анализа применяются также для определения толщин и степени однородности материалов и изделий.  [38]

Если измерять поглощение бета - и гамма-лучей в слое материала постоянной толщины и при неизменных условиях измерения ( геометрия излучателя и его расположение относительно приемника излучений), ослабление интенсивности излучения зависит от содержания влаги в материале. Измерение влажности является одной из разновидностей методов контроля состава и свойств вещества по ослаблению радиоактивных излучений.  [39]

При низких температурах, когда собственным излучением материала можно пренебречь, из уравнения (III.135) выпадает первый член правой части и при этом простые преобразования позволяют получить выражение закона Бугера, определяющего только ослабление интенсивности излучения в поглощающей среде.  [40]

Интенсивность излучения определяется энергией излучения, попадающего в единицу времени на единицу площади, расположенной перпендикулярно к направлению распространения излучения. Уравнение ослабления интенсивности излучений при прохождении вещества было рассмотрено выше. Исходя из определения понятия интенсивности, можно сделать вывод о том, что энергия излучения определяет его проникающую способность, выявляе-мость дефектов и длительность просвечивания. Уравнение интенсивности ( 2) описывает закон ослабления узкого, параллельного и моноэнергетического пучка лучей. При дефектоскопии сварных соединений, литья и других изделий используют широкие пучки. В этом случае на пленку ( детектор) попадают не только те кванты, направление движения которых совпадает с начальным, но и кванты, испытавшие многократное рассеяние в контролируемом изделии.  [41]

42 Распределение квантов излучения в спектрах люминесценции. [42]

Кривые Т, li la изображают спектры двух образцов coaeii с тремя частицами воды, кривые 2 и 2а - с двумя частицами воды, кривые 3 и За-с одной частицей воды. Уменьшение содержания воды приводит к некоторому изменению формы полос и к ослаблению интенсивности излучения.  [43]

Иногда толщиномеры применяют для измерения толщины изделий с криволинейными поверхностями. Узкий рабочий пучок излучения проходит по хорде поперечного сечения трубы, причем ослабление интенсивности излучения в пучке зависит от толщины стенки.  [44]

Радиационный контроль качества сварных соединений осуществляется путем их просвечивания ионизирующим излучением с фиксацией прошедшего через контролируемый объект излучения тем или иным способом. Выявление дефектов сплошности сварного шва при этом методе контроля основано на зависимости степени ослабления интенсивности излучения от толщины и плотности материала просвечиваемого объекта: чем меньше толщина и плотность материала просвечиваемого изделия, тем в меньшей мере ослабляется ионизирующее излучение. Поэтому интенсивность прошедшего через контролируемое сварное соединение излучения имеет в разных точках переменную величину, отображающую различия в толщине или в плотности материала соединения в этих точках, обусловленные, в частности, дефектами сплошности в сварном шве.  [45]



Страницы:      1    2    3    4