Ослабление - пучок
Cтраница 3
Кроме того, указана в сантиметрах толщина слоя dii, которая вызывает ослабление пучка лучей в два раза. [31]
Эффективные сечения радиационного захвата многих элементов для тепловых нейтронов также были измерены методом ослабления пучка. [32]
При энергии - квантов, лежащей в пределах 0 4 - 1 5 Мэв, ослабление пучка - [ - лучей при прохождении через вещества с легкими элементами обусловлено главным образом эффектом Комптона. [33]
Найти толщину ( в г / см) пластинки из олова, дающей такое же ослабление пучка - квантов. [34]
Коэффициент т, имеющий размерность LT1 ( так как ix - безразмерная величина), характеризует ослабление пучка и называется коэффициентом ослабления. [35]
Поскольку масса образца мала, в данном случае целесообразно использовать длинноволновое рентгеновское излучение, чтобы обеспечить измеримое ослабление пучка. Очевидно, будут необходимы окна высокой прозрачности. При больших длинах волн особое внимание должно быть обращено на изменения эффективной длины волны. [36]
Установлено, что если в анализируемом растворе присутствуют высокие концентрации посторонних элементов, то при его распылении наблюдается ослабление пучка света от лампы даже при отсутствии в растворе определяемого элемента. Природа этого фонового ( неселективного) поглощения недостаточно ясна - но предположительно объясняется молекулярным поглощением пучка света и его рассеянием на неиспарившихся части - - цах пробы в пламени. Наличие неселективного поглощения приводит к завышению аналитических данных в области малых концентраций ( Z3 - 4 мкг / мл) определяемых элементов. [37]
 |
Оптическая схема фотометра Аминко, предназначенного для измерения светорассеяния. [38] |
Система формирования падающего пучка состоит из ртутной лампы, вращающегося барабана с фильтрами, монохроматизирующими световой пучок, набора нейтральных фильтров для ослабления пучка, поляризатора, обеспечивающего поляризацию света в вертикальном или горизонтальном направлении, шторок и держателя кюветы. Приемная оптическая система направляет свет, рассеянный образцом, в фотоумножитель. Система включает двояковыпуклую линзу; две прецизионные апертуры, контролирующие геометрию рассеянного пучка; устройство для юстировки анализатора, используемого для измерения факторов деполяризации; фотоумножитель, превращающий световую энергию в электрическую, и поворотный столик для поворота приемной системы относительно образца. На рисунке показана ориентация прибора для измерения света, рассеянного под углом 90, однако поворотный столик легко позволяет измерять рассеяние и под любыми другими углами. Схема и пояснительные замечания взяты из руководства к пользованию прибором фирмы American Instrument Company, США. [39]
В связи с этим оказалось возможным поставить очень важные опыты по определению радиусов атомных ядер методом, в основе которого лежит измерение ослабления пучка нейтронов при их прохождении через вещество. На рис. 139 изображена схема подобного опыта. Нейтроны первичного пучка га, попадая в образец О, рассеиваются в нем ( или испытывают какое-нибудь другое взаимодействие), в результате чего часть из них выбывает из пучка. Вследствие этого пучок нейтронов ослабляется в е-погп 5 раз, где га - концентрация ядер образца; ад - полное сечение; б - толщина образца. [40]
В силу большого значения бора для нейтронных счетчиков, выполнение закона 1 / для реакции 5B10 ( n, a) 3Li7 проверялось с особой тщательностью методом ослабления пучка [52, 11, 96, 110, 130, 40] и считается сейчас подтвержденным. [41]
В случае рентгеновского излучения данные по мощности дозы, полученные с дозиметрическим раствором, пересчитывались для исследуемой жидкости, исходя из значения эффективной длины волны, полученного обычным методом ослабления пучка алюминиевой фольгой. [42]
Авогадро, Qd - массовая толщина пластинки, А - массовое число, сг0 - эффективное сечение, соответствующее скорости нейтронов VQ 2200 м / сек, т) - степень ослабления пучка. [43]
 |
Пробеги и дисперсии пробегов ионов В и As с энергией Е0 в SiO.| Значения коэффициента а ( примесь В, маска SiO2 Ослабление пучка QS / Q. [44] |
Аир - средний пробег и дисперсия пробега иона примеси в защитной пленке ( табл. 6.5); а - коэффициент для каждой конкретной пары примесь - защитное покрытие ( табл. 6.6), зависящий от требуемого ослабления пучка падающих ионов QJQ на поверхности полупроводника после прохождения им защитного слоя. [45]
Страницы: 1 2 3 4