Топографическая основа
Cтраница 3
Точность топографической основы влияет на точность отображения гидрогеологических данных. При составлении гидрогеологических карт рекомендуется разгружать топографическую основу от второстепенных условных знаков. [31]
В общей части во введении указывается географическое и административное п ожение обследуемой территории и площадь в гектарах. Приводится масштаб почвенной съемки и дается оценка топографической основы. Далее указывается объем полевых работ - количество сделанных разрезов и взятых образцов, объем аналитической работы - количество и виды анализов, а также время выполнения полевых и камеральных работ. [32]
Трассировочный план, продольный и поперечные профили, должны содержать присущую их назначению информацию о местности, распределение которой должно быть примерно равномерным и без дублирования. План и профили трассы недолговечны и служат топографической основой только в период проектирования и строительства сооружения; после строительства элементы ситуации и рельефа преобразуются. [33]
После выкопки разреза его местоположение возможно точнее наносят на топографическую основу. Основные разрезы обозначают крестиками в кружках, полуямы - кружками, прикопки - точками с обязательным указанием номера. В дневнике ведут порядковую нумерацию всех видов разрезов. Карту ориентируют по компасу таким образом, чтобы северный конец стрелки компаса совпадал с С по стрелке на карте. Затем, взяв по компасу направление на разрез от какого-либо хорошо заметного ориентира ( пересечение дорог, угол поля севооборота, постройки), определяют расстояние между ними и по измерительной линейке откладывают в соответствующем направлении это расстояние. [34]
Взрывные работы ведутся согласно разработанному и утвержденному паспорту. При разработке проектов взрывных работ следует предъявлять повышенные требования к топографической основе. Необходимо иметь поперечные разрезы по всем характерным точкам рельефа на полке. [35]
 |
Изображение Земли Иштар в аксонометрической проекции. [36] |
Исследование оптических характеристик поверхности Луны дает сведения о физической и отчасти химической природе лунного грунта. Необходимость совместного анализа оптических и морфологических характеристик лунной поверхности порождает потребность в картах, тематическая нагрузка которых отображена на топографической основе. [37]
Выезжая в поле, геологическая партия прежде всего знакомится с местностью, ищет выходы на дневную поверхность обнажений горных пород. Геолог приступает к систематическому изучению этих обнажений - описывает их, выясняет, какие породы залегают, каков их состав, устанавливает их возраст, определяет с помощью горного компаса положение изучаемого обнажения в пространстве, углы наклона слоев и наносит на топографическую основу. [38]
Если принять / V Л / о, то эти затраты увеличиваются. Собранная топографическая информация по своей полноте, детальности и точности становится излишней. При создании топографической основы, непосредственно используемой в процессе инженерных изысканий, проектирования, строительства инженерных сооружений, возникает необходимость отбора, обобщения, статистического и семантического обогащения топографической информации. Такая инженерная генерализация информации сопровождается дополнительными расходами на выполнение специальных инженерно-картографических работ. [39]
Для составления геологических карт геологи внимательно изучают поверхность земли. Они описывают каждое встречающееся на поверхности обнажение коренных пород. Отмечают их положение на топографической основе. Прослеживают по ней распространение пород и наносят их на топографический планшет. В результате получается геологическая карта. Такая карта отображает распространение на поверхности пород различного возраста, состава и направление их наклона. [40]
Фотометрические исследования Луны в основном проводятся наземными средствами. Пространственное разрешение при этом составляет в лучшем случае 500 - 1000м в центре диска. Для представления этой информации в виде семейства изолиний, изображенных на топографической основе, естественно, требуются фотографии рельефа Луны с более высоким пространственным разрешением. [41]
СТРУКТУРНАЯ СЪЕМКА - особый вид инструментальной геологической съемки, применяемый для выявления по возможности всех деталей тектонического строения картируемой площади. Для уточнения стратиграфии при этом нередко широко используют микропалеонтологию. Точки обнажения опорных горизонтов инструментально наносятся на карту, и для этих точек определяются координаты и вертикальные отметки. Предварительное наличие точно топографической основы ( карты) не обязательно. Точки обнажения пластов, нанесенные на карту с отметками различных пластов, в дальнейшем служат основанием для вычисления отметки базисного слоя, даже в тех местах, где он и не обнажается. По полученным вычисленным отметкам строят структурную карту кровли базисного горизонта. [42]
Структурная съемка - особый вид инструментальной геологической съемки, применяемый для выявления по возможности всех деталей тектонического строения картируемой площади. Для уточнения стратиграфии при этом нередко широко используют микропалеонтологию. Точки обнажения опорных горизонтов инструментально наносятся на карту, и для этих точек определяются координаты и вертикальные отметки. Предварительное наличие точно топографической основы ( карты) не обязательно. Точки обнажения пластов, нанесенные на карту с отметками различных пластов, в дальнейшем служат основанием для вычисления отметки базисного слоя, даже в тех местах, где он и не обнажается. По полученным вычисленным отметкам строят структурную карту кровли базисного горизонта. [43]
Более дробные подразделения ( отдел, ярус) закрашивают цветом соответствующей системы. При этом более древние подразделения имеют темный тон соответствующего цвета, а более молодые - светлый тон того же цвета. Например, отложения нижнего отдела меловой системы закрашиваются зеленым цветом, а верхнего отдела меловой системы - более светлым тоном того же зеленого цвета. Интенсивность раскраски древних подразделений подбирают так, чтобы на карте легко читалась и просвечивалась топографическая основа. [44]
В июне 1974 г. на селеноцентрическую орбиту была выведена советская автоматическая межпланетная станция Луна-22. Съемка поверхности выполнялась с высоты приблизительно 30 км. Панорамы, полученные АМС Луна-22, имеют пространственное разрешение, в несколько раз более высокое, чем лучшие изображения с Земли ( 100 - 200 м), поэтому после некоторой обработки они могут быть использованы в качестве топографической основы для представления фотометрических данных. [45]
Страницы: 1 2 3 4