Cтраница 2
Последовательно рассматриваются физические основы методов, схемы экспериментов и условия их проведения, анализируются возможности методов, их взаимосвязь и совместное использование для определения физических параметров молекул и веществ, приводятся примеры применения методов в химических исследованиях. [16]
Рассмотрим подробнее физические основы метода поляризованной люминесценции. Поляризация люминесценции, или анизотропия свечения, возникает при анизотропном расположении ( в момент наблюдения) анизотропных излучателей. Степень анизотропии излучателя определяется распределением электронной плотности самого излучателя и характеризуется значением PQ, получаемым для замороженных неподвижных излучателей. Анизотропия расположения излучателей в момент поглощения задается анизотропией возбуждающего света. Анизотропия расположения излучателей в момент испускания определяется их вращательной подвижностью, характеризуемой временем релаксации trot, или углом поворота за время жизни излучателя в возбужденном состоянии. [17]
В книге даны физические основы метода, описана аппаратура, рассмотрены масс-спектры основных классов органических соединений, показана возможность применения масс-спектрометрии в качественном и количественном анализе. [18]
В работе рассмотрены физические основы метода, дано описание методики контроля и аппаратуры, приведены примеры применения ультразвукового структурного анализа металлов в заводских условиях. [19]
В первом томе описаны физические основы методов исследования быстропротекающих процессов. Рассмотрены общие принципы регистрации этих процессов, особенности высокочастотных осциллографов и усилителей, методика высокоскоростной фотографии в видимом свете и рентгеновских лучах при микро - и наносекундных экспозициях, вопросы применения радиочастотной интерферометрии и методы измерения температур. Намечены возможные пути совершенствования аппаратуры. [20]
В публикациях [71, 72, 126] подробно описаны физические основы метода ХГН и условия формирования однокомпонентных покрытий из мелкодисперсных частиц различных металлов и сплавов. Анализ этих работ показал, что метод ХГН создает хорошую физико-химическую основу для получения разнообразных многокомпонентных ( из двух и более разнородных материалов) порошковых композиций, хотя возникает при этом ряд сложных проблем, требующих проведения дополнительных исследований. [21]
Для интерпретации каротажных диаграмм необходимо знать физические основы методов каротажа, которые подробно рассматриваются в курсе промысловой геофизики. [22]
Первая, часть - теоретическая - содержит физические основы метода ЯМР и включает соответствующий математический аппарат. [23]
Должен знать: основные сведения о спектрах радиоактивных излучений и спектрометрических методах; физические основы метода сцинтилляционной спектрометрии; основные узлы и принцип работы амплитудных анализаторов. [24]
Должен знать: основные сведения о спектрах радиоактивных излучений и спектрометрических методах; физические основы метода един-тилляционной спектрометрии; основные узлы и принцип работы амплитудных анализаторов. [25]
Должен знать: основные сведения о спектрах радиоактивных излучений и спектрометрических методах; физические основы метода сцин-тилляционной спектрометрии; основные узлы и принцип работы амплитудных анализаторов. [26]
Должен знать: основные сведения о спектрах радиоактивных излучений и спектрометрических методах; физические основы метода сцинтилляционной спектрометрии; основные узлы и принцип работы амплитудных анализаторов. [27]
Должен знать: основные сведения о спектрах радиоактивных излучений и спектрометрических методах; физические основы метода сцинтил-ляционной спектрометрии; основные узлы и принцип работы амплитудных анализаторов. [28]
Должен знать: основные сведения о спектрах радиоактивных излучений и спектрометрических методах; физические основы метода спин-тилляционной спектрометрии; основные узлы и принцип работы амплитудных анализаторов. [29]
Должен знать: основные сведения о спектрах радиоактивных излучений и спектрометрических методах; физические основы метода сиин-тилляционной спектрометрии; основные узлы и принцип работы амплитудных анализаторов. [30]