Особенность - атомная структура - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Закон Митчелла о совещаниях: любую проблему можно сделать неразрешимой, если провести достаточное количество совещаний по ее обсуждению. Законы Мерфи (еще...)

Особенность - атомная структура

Cтраница 1


Особенности атомной структуры характерны также для границ раздела между двумя конденсиров. На границе электрод - электролит наблюдается преимуществ, ориентация дипольных молекул, образуется слой, экранирующий электрич.  [1]

Специфичность фермента зависит от особенности атомной структуры и конфигурации субстрата и фермента. Если при гетерогенном катализе решающую роль играет принцип геометрического и энергетического соответствия, то в ферментативном катализе важно не только совпадение расстояний и энергии, но и совпадение формы.  [2]

Большинство электронных свойств аморфных полупроводников определяется не только особенностями локальной атомной структуры, но и взаимодействием достаточно удаленных один от другого атомов.  [3]

Как и в случае синтетических полупроводников, специфичность фермента зависит от особенностей атомной структуры, а также конфигурации субстрата и фермента. Если при гетерогенном катализе решающую роль играют принципы геометрического и энергетического соответствия, то в энзиматических процессах значительную роль начинает играть также и принцип стереохимического соответствия.  [4]

Современная теория органического катализа связывает стереохимические особенности участвующих в реакции веществ с особенностями атомной структуры активных центров и энергетическими соображениями, одновременно представляя физический и химический подход к катализу.  [5]

Переходя к роли химического состава решетки, следует отметить, что цинк и отчасти его гомологи в периодической системе вследствие особенностей атомной структуры отличаются в своих соединениях особенно высокой люминесцентной способностью. Тем не менее, при учете индивидуальных свойств препарата как регулирующего яркость фактора, нельзя переоценивать значения химизма, противопоставляя его физическим свойствам люминофора. Две кристаллические модификации сульфида цинка ( вур-цит и сфалерит) при тождественности химического состава обладают несколько различной люминесцентной способностью. Она касается связи люминесцентной способности атомов с их положением в периодической системе. Приведенные в работе примеры наглядно показывают, что возникновение и течение люминесцентного процесса не определяются только теми свойствами слагающих соединение элементов, которые в простейшей форме подчинены закономерностям периодической системы.  [6]

Знание особенностей атомной структуры позволит понять, каким образом атомы соединяются друг с другом, образуя молекулы.  [7]

Теплоемкость, связанная с колебаниями высокой частоты, как следует из формул ( 89) и ( 91), при низких температурах практически равна нулю. Длины волн, соответствующие низким частотам колебаний, значительно больше, чем межатомные расстояния, и поэтому особенности атомной структуры различных веществ для таких колебаний несущественны. Этим можно объяснить, что при низких температурах теория Дебая значительно лучше согласуется с опытными данными. Можно ожидать, что при достаточно низких температурах формула Дебая должна выполняться также и для сильно анизотропных или многоатомных веществ. Даже для графита, являющегося типичным анизотропным веществом, ниже 2 К теплоемкость пропорциональна кубу абсолютной температуры.  [8]

Следует отметить, что во многих случаях довольно трудно определить, является система раствором внедрения или замещения. Например, в жидкостях различие между узлами внедрения и замещения весьма условно. Это дает основание сохранить классическое определение идеального раствора и избыточных функций, несмотря на особенности атомной структуры растворов.  [9]

Основным моментом процедуры является выделение наиболее существенных характеристик. Этот этап особенно важен при рассмотрении аморфных полупроводников, для которых количество микроскопических характеристик материала чрезвычайно велико и отбор наиболее существенных из них является нелегкой задачей. Если на этом этапе допущена ошибка, то все следующие становятся бессмысленными. При описании, например, электронных свойств аморфных полупроводников выбор таких ключевых моментов осуществляется путем исследования зависимостей распределения флуктуации электронного потенциала и статических и динамических взаимодействий электронов с атомами от особенностей атомной структуры материала. Таким путем удается установить структурно-чувствительные физические характеристики. Удается также выяснить, какие особенности атомной структуры в наибольшей степени определяют ту или иную физическую величину. С помощью такой процедуры удалось, например, выяснить, что процесс возникновения андерсеновских локализованных состояний и порогов подвижности до некоторой степени структурно-нечувствителен и протекает одинаково во всех типах неупорядоченных систем. Если есть основания полагать, что это не случайно, то при моделировании андерсеновских состояний особенности ра-зупорядочения во внимание могут не приниматься.  [10]

В последние годы значительно возрос интерес к изучению монокристаллических пленок. Это вызвано рядом факторов, и в первую очередь, широким использованием тонких пленок в электронных приборах. Известно, что физические свойства тонких пленок значительно отличаются от свойств объемного образца. Это связано с небольшими размерами кристаллитов, образующих пленку и особенно с большим количеством дефектов, таких как: дислокации, вакансии, дефекты упаковки, границы зерен, двойники. Важную роль играют механическое напряжение и деформация, возникающие в пленке при охлаждении подложки, а также некоторые особенности атомной структуры пленки, такие как полиморфные образования и ыета-стабильные фазы. Поэтому для использования технологических возможностей таких пленок желательно получать пленки, имеющие структуру, близкую к идеальной монокристаллической. Кроме того, следует отметить специфичность выбора экспериментальных методов структурных исследований. Основные усьсхи были сделаны в области разработки и использования электронной микроскопии с высоким разрешением, которая обеспечивает прямое м-блюдение дефектов решетки в тонких пленках.  [11]

Основным моментом процедуры является выделение наиболее существенных характеристик. Этот этап особенно важен при рассмотрении аморфных полупроводников, для которых количество микроскопических характеристик материала чрезвычайно велико и отбор наиболее существенных из них является нелегкой задачей. Если на этом этапе допущена ошибка, то все следующие становятся бессмысленными. При описании, например, электронных свойств аморфных полупроводников выбор таких ключевых моментов осуществляется путем исследования зависимостей распределения флуктуации электронного потенциала и статических и динамических взаимодействий электронов с атомами от особенностей атомной структуры материала. Таким путем удается установить структурно-чувствительные физические характеристики. Удается также выяснить, какие особенности атомной структуры в наибольшей степени определяют ту или иную физическую величину. С помощью такой процедуры удалось, например, выяснить, что процесс возникновения андерсеновских локализованных состояний и порогов подвижности до некоторой степени структурно-нечувствителен и протекает одинаково во всех типах неупорядоченных систем. Если есть основания полагать, что это не случайно, то при моделировании андерсеновских состояний особенности ра-зупорядочения во внимание могут не приниматься.  [12]

Основным моментом процедуры является выделение наиболее существенны характеристик. Этот этап особенно важен при рассмотрении аморфных полупрс водников, для которых количество микроскопических характеристик материал чрезвычайно велико и отбор наиболее существенных из них является нелегко задачей. Если на этом этапе допущена ошибка, то все следующие становятся 6ei смысленными. При описании, например, электронных свойств аморфных пол; проводников выбор таких ключевых моментов осуществляется путем исат дования зависимостей распределения флуктуации электронного потенциала статических и динамических взаимодействий электронов с атомами от особе ] ностей атомной структуры материала. Таким путем удается установить структу ] но-чувствительные физические характеристики. Удается также выяснить, каю особенности атомной структуры в наибольшей степени определяют ту или ину физическую величину. С помощью такой процедуры удалось, например, выяснит что процесс возникновения андерсеновских локализованных состояний и пороге подвижности до некоторой степени структурно-нечувствителен и протекает од каково во всех типах неупорядоченных систем. Если есть основания полагать, чт это не случайно, то при моделировании андерсеновских состояний особенности р зупорядочения во внимание могут не приниматься.  [13]

В последние годы проявляется исключительно большой интерес к новому классу материалов - аморфным металлам, называемым также металлическими стеклами. Аморфное состояние металлов наблюдалось уже давно при осаждении слоев металла из электролита и при термическом напылении на холодную подножку. В настоящее время создана весьма экономичная и высокопроизводительная технология получения аморфных металлов, в основе которой лежит быстрое ( со скоростью больше 106 К / с) охлаждение тонкой струи расплавленного металла. По-видимому, любой - расплав можно привести к твердому аморфному состоянию. Установлено, однако, что формирование аморфных слоев облегчается, если к металлу добавить некоторое количество примесей. Еще более благоприятные условия для получения металлического стекла создаются при осаждении сплавов металл - металл и металл - металлоид. Полученные таким образом металлические стекла обладают весьма интересными свойствами, обусловленными особенностями атомной структуры.  [14]



Страницы:      1