Cтраница 2
Осцилляции Г0 также затухают медленно, что ведет к большому просачиванию энергии через боковые лепестки. [16]
Осцилляции пузырьков в звуковом поле вызывают неоднородные движения жидкости в непосредственной близости от пузырька. Из-за малого масштаба таких течений их называют микротечениями или микропотоками. Образующиеся высокие градиенты скоростей могут вызывать значительные сдвиговые напряжения на границах раздела, попадающих в зону таких микропотоков. Это может быть еще одним механизмом повреждающего действия кавитацион-ного поля. [18]
Осцилляции на плоской вершине импульса Л0 часто появляются в широкополосных осциллографах с усилителями с распределенным усилением и могут быть обусловлены, например, неполным согласованием коллекторной и эмиттерной линий. Такой же эффект возникает в стробоскопических осциллографах из-за отражения от неоднородностей в линии передачи от источника сигнала к преобразователю. При стробоскопическом преобразовании могут возникнуть специфические искажения из-за прямого прохождения сигнала, а также неоптимальной настройки преобразователя со схемой памяти. [19]
Осцилляции с высокой точностью оказались периодичными в функции обратного магнитного поля; найденный из периода осцилляции (9.40) размер ячейки обратной решетки в направлении [ ПО ], b - 1 5 10 - 19 г см / с, с точностью около 1 % совпал с известными кристаллографическими данными. [20]
Осцилляции Шубникова - де Гааза в плоскости спайности бикристал-ла германия. [21]
Осцилляции проводимости были рассмотрены А.И. Ахиезером ( 1939) и Б.И. Давыдовым и И.Я. Померанчуком ( 1939) для квадратичного закона дисперсии электронов, и A.M. Косевичем и В.В. Андреевым ( 1960) для произвольного закона дисперсии. [22]
Осцилляции Шубнико-ва - де Гааза при В 4 Тл были периодичны по 1 / 6, и определенная из периода этих осцилляции концентрация электронов N [ 9] оказалась равной 4 2 - 1011 см-2. R и отсутствие осцилляции в случае, когда магнитное поле параллельно поверхности. Поведение кривых в области Р-6 Тл сильно зависит от температуры, и при Т 1 2 К выявляются два хорошо разрешаемых пика. [23]
Численные осцилляции происходят в определенных условиях и, как правило, определяются сравнением с соответствующими аналитическими решениями. Опасность колебаний возникает преиму - [ щественно в процессах с доминирующей конвекцией. [24]
Осцилляции амплитуды и интенсивности света, возникающие в слое в результате сложения прямо прошедшего через маску и ди-фрагмированного на краях элементов волновых фронтов, могут проявляться на фоторезисте при условии, если максимумы интенсивности в тени или минимумы интенсивности в прозрачных областях маски обеспечивают за время экспонирования накопление энергии в слое резиста, соответствующей пороговой экспозиции, и достаточной для удаления части слоя резиста в данных условиях обработки. [25]
Обнаруженные осцилляции электронных потерь и зависимости от Zj и Z, описываются более совершенной теорией, использующей волновые ф-ции Хартрн - Фока - Слэтера. [27]
Осцилляции давления в камере сгорания, которые обычно происходят с частотами, определяемыми акустическими модами камеры ( от v 100 до 1000 Гц), обусловливают низкие скорости реакции и, следовательно, скорость тепловыделения будет изменяться с той же частотой, потенциально значительно усиливая осцилляции давления. Волны сжатия от камеры сгорания могут вызвать модуляции потока топлива на входе и воздушного потока. Эти модуляции также могут усиливать осцилляции давления в камере сгорания. [28]
![]() |
Схема разрушения плоской пленки при увеличении скорости истечения. [29] |
Осцилляция капли является следствием действия ряда сил. [30]