Cтраница 1
Отжиг образцов снимает в них все остаточные напряжения, а также, в известной степени, уничтожает местное упрочнение от наклепа. [1]
![]() |
Устройство для плавки образцов. [2] |
Отжиг образцов проводили в предварительно отожженных в высоком вакууме молибденовых или танталовых тиглях. Взаимодействие с материалами тиглей, по данным автора [122], не наблюдалось, что крайне сомнительно. [3]
Отжиг образца при более высокой температуре приводит к исчезновению этого изгиба, и кривые o - s ( T) принимают обычную ( нормальную) выпуклую форму. [5]
Отжиг образца при более высокой температуре приводит к исчезновению этого изгиба, и кривые rs ( T) принимают обычную ( нормальную) выпуклую форму. [7]
![]() |
Температурная зависимость диэлектрической проницаемости кристаллических образцов, отобранных из различных участков були, полученной видоизмененным методом Киропулоса. [8] |
Отжиг образцов в токе кислорода при температуре около 1000 IB течение 20 часов частично снижал интенсивность окраски. [9]
![]() |
Зависимость потерь массы ( сплошные линии за 10 ч и твердости НВ ( штриховые линии от температуры отпуска. [10] |
Отжиг образцов исследуемых сталей приводит к резкому снижению их сопротивляемости микроударному разрушению. [11]
Путем тщательного отжига образцов, закристаллизованных из расплава, Манделькерн 131 смог получить образцы, в которых существовало несколько порядков в регулярности расположения слоев, причем их толщина изменялась в зависимости от условий приготовления ( температуры отжига) от 150 до 850 А. Верхний предел определенных им значений значительно больше, чем шаг по толщине, наблюдаемый в монокристаллах, полученных из разбавленных растворов. [12]
Путем тщательного отжига образцов, закристаллизованных из расплава, Манделькерн ш смог получить образцы, в которых существовало несколько порядков в регулярности расположения слоев, причем их толщина изменялась в зависимости от условий приготовления ( температуры отжига) от 150 до 850 А. Верхний предел определенных им значений значительно больше, чем шаг по толщине, наблюдаемый в монокристаллах, полученных из разбавленных растворов. [13]
Путем тщательного отжига образцов, закристаллизованных из расплава, Манделькерн 131 смог получить образцы, в которых существовало несколько порядков в регулярности расположения слоев, причем их толщина изменялась в зависимости от условий приготовления ( температуры отжига) от 150 до 850 А. Верхний предел определенных им значений значительно больше, чем шаг по толщине, наблюдаемый в монокристаллах, полученных из разба вленных растворов. [14]
После отжига образцов при температуре 700 - 900 С, необходимого для устранения радиационных нарушений, были получены ИЛС п - р-типа проводимости. [15]