Отказ - прибор
Cтраница 2
Примерами событий могут служить отказ прибора в данном интервале времени, попадание и промах при выстреле, получение т попаданий при л выстрелах. [16]
Примерами событий могут служить отказ прибора в данном интервале времени, попадание и промах при выстреле, получение га попаданий при п выстрелах. [17]
Учитывая характер зависимости интенсивности отказов приборов от времени, продолжительность испытаний, проводимых с целью контроля соответствия приборов требованиям ТУ по надежности, выбирается небольшой. [18]
 |
Нарушение теплостойкости тиристора при приложении обратного напряжения. [19] |
При этом увеличивается вероятность отказа прибора, так как температура структуры увеличивается. Эффект накопления энергии может существенно изменить механизм отказа. Например, при принудительном запирании тиристоров приложением обратного напряжения ( рис. 7.26), если температура анодного перехода достигает значения, соответствующего собственной проводимости высокоомной области перехода, последний шунтируется проводящей областью, и напряжение на нем падает. [20]
Экспериментально установлено, что интенсивность отказов приборов уменьшается при снижении рабочей температуры переходов, напряжения на электродах и тока. Снижение рабочей температуры уменьшает практически отказы всех видов: короткие замыкания, обрывы и значительные изменения параметров. Снижение напряжения значительно уменьшает число отказов приборов с высоковольтными переходами. Снижение рабочего тока приводит главным образом к меньшим деградациям контактных соединений и токоведущих дорожек металлизации на кристаллах. [21]
Эти неисправности не приводят к отказу прибора, не нарушают выполнение им своей основной задачи на заданном уровне. [22]
Снижение надежности установок и увеличение числа отказов приборов, что вызывает рост убытков, особенно, когда анализаторы служат датчиками в системах автоматического контроля и регулирования. [23]
Совмещение предельных режимов может привести к отказу прибора. [25]
Это условие равносильно требованию сохранения закона распределения отказов приборов во времени, так как оно сводится к изменению масштаба времени. [26]
Экспериментально установлено, что интенсивность ( вероятность) отказов приборов уменьшается при снижении рабочей температуры, напряжений на электродах и токов. Снижение рабочей температуры уменьшает отказы практически всех видов: короткие замыкания, обрывы и значительные изменения параметров. Снижение напряжения значительно уменьшает отказы приборов с высоковольтными переходами. Снижение рабочего тока приводит, главным образом, к замедлению деградации контактных соединений и токоведущих дорожек металлизации на кристаллах. [27]
Экспериментально установлено, что интенсивность ( вероятность) отказов приборов уменьшается при снижении рабочей температуры, напряжений на электродах и токов. [28]
Для проверки утверждения о том, что вероятность отказа прибора р равна 0 01, было проведено испытание 5 приборов, при этом ни один из приборов не отказал. [29]
Экспериментально установлено, что интенсивность ( вероятность) отказов приборов растет при увеличении рабочей температуры переходов, напряжения на электродах и тока. В связи с повышением температуры ускоряются практически отказы всех видов: короткие замыкания, обрывы и значительные изменения параметров. Повышение напряжения значительно ускоряет отказы приборов с МДП структурами и с низковольтными переходами. Увеличение тока приводит, главным образом, к ускоренному разрушению контактных соединений и токоведущих дорожек металлизации на кристаллах. [30]
Страницы: 1 2 3 4