Cтраница 1
Отказы устройств СУ во всех режимах работы объекта ( а они всегда могут быть) не должны приводить к выдаче ложных KOJ манд управления исполнительными механизмами и регулирующими органами. [1]
![]() |
График функционирования регулятора с учетом всех простоев ( а и с учетом простоев только из-за отказов ( б. [2] |
Классификация отказов устройств, входящих в регулятор, аналогична приведенной. [3]
После отказа устройства известен только уровень воздействующего на него фактора, но неизвестно, является ли этот уровень критическим или хотя бы насколько он превышает последний. Неизвестно также, с каким запасом выдержали нагрузки неотказавшие узлы. [4]
![]() |
Схема энергосистемы. [5] |
При отказах устройств АПНУ возможно нарушение устойчивости параллельной работы и, как следствие, возникновение асинхронного хода, являющегося наиболее опасным нарушением режима, поскольку он сопровождается глубокими колебаниями напряжения в узловых точках энергосистемы, что неблагоприятно для работы потребителей. [6]
Анализируются типы отказов устройств, которые могут возникнуть в результате различных отказов элементов и блоков. [7]
Если поток отказов восстанавливаемого устройства простейший, то A ( t) - h ( t), где K ( t) - - интенсивность отказов того же устройства, если считать его невосстаяавливаемым. [8]
В случае отказов устройств АВР при их опробовании или при аварии должны немедленно приниматься меры к устранению выявленных неисправностей. [9]
Я - интенсивность отказов устройства; Тк, tK - период и продолжительность контроля соответственно; а0, ( 50 - условные вероятности ложного и необнаруженного отказов; ts - среднее время восстановления устройства, зависящее от быстродействия и точности используемых при диагностике средств измерений. [10]
В основном события, определяющие отказы устройств релейной защиты, происходят - в период дежурства, когда отсутствуют короткие замыкания в защищаемой зоне. [11]
Анализ возможных повреждений и отказов устройств при нормальной эксплуатации АЭС с ВВЭР показал, что наибольшую опасность представляют аварии, связанные с прекращением расхода теплоносителя, с потерей теплоносителя, с освобождением реактивности, а также аварии, связанные с небольшой течью в первом контуре и одновременным прекращением тепло-отвода ко второму контуру. [12]
Предположим, что частота отказов устройства ( канала) в системе с архитектурой 1 оо2 разделена на два класса отказов. [13]
Большое влияние на интенсивность отказов устройства сопряжения оказывает интенсивность выхода из строя запоминающего устройства, которая определяется количеством хранимых кодов в памяти. Учитывая, что тип запоминающего устройства и принцип его построения целесообразно выбирать аналогичным устройству памяти вычислителя, формула для вычисления Кзу может упроститься. Если используется в вычислителе и в устройстве сопряжения средств памяти одного типа и принципа построения, то величина Dl определяется однозначно по выбранному запоминающему устройству вычислителя. [14]
![]() |
Схемы расчета надежности [ IMAGE ] Схема расчета надежности. [15] |