Cтраница 2
Спосоо рекомем е хя применять для проверки откло - Йий от прямолинейности вертикальных поверхностей, так как при горизонтальном расположении струны вносится дополнительная погрешность За счет ее прогиба. [16]
Итак, возникли функции rV, измеряющие откло цирования на ковекторных полях. [17]
Итак, получилось, что в первом приближении откло - нение максимума главного лепестка прямо пропорционально изменению частоты питающего сигнала относительно центральной частоты, на которой максимум главного лепестка нормален плоскости расположения излучателей. [18]
Чтобы получить изотермы адсорбции, по оси абсцисс откла - - дывают равновесные концентрации с, а по оси ординат - соответствующие им значения а. Для проверки применимости уравнения строят изотерму адсорбции в координатах / с-1 / а. В этом случае экспериментальные точки должны лечь на прямую линию. [19]
Количественно овальность и огранка оцениваются так же, как откло нение от круглости. [20]
Показать, что для описанной в упражнении 1.21 задачи об откло - iM - iiiiii нагруженной тонкой упругой пластины краевое условие 32ф / дпа 0 и. [21]
![]() |
Влияние промотирующих добавок на активность алюмохромовых катализаторов. [22] |
Из этих данных видно, что, несмотря на некоторые откло - f нения, для большинства катаем вес. [23]
Ст - концентрация в моль / кг; Д - откло - - нение стрелки гальванометра, пропорциональное разности температур термисгоров; С - концентрация в г / кг. [24]
Расчетные формулы для определемя указанных параметре приведены в [5], а предельные откло. [25]
![]() |
Кривые зависимости между запасами УВ и величиной отношении п / ф. [26] |
Кривая на рис. 32 не везде проведена по точкам, имеются и откло - НРНИЯ, по нашему мнению, обусловленные допущениями, сделанными нами при построении этой кривой. Строго говоря, последнее допущение не всегда выдерживается. В частности, на север от Широтного Приобья мощность одновозрас-тных отложений, как правило, увеличивается. [27]
Проанализировав резуль - таты опыта, Резерфорд пришел к выводу, что столь сильное откло - нение а-частиц возможно только в том случае, если внутри атома имеется чрезвычайно сильное электрическое поле, которое создается зарядом, связанным с большой массой и сконцентрированным в очень малом объеме. [28]
Так, в I раздел внесено обсуждение точности фотометрических методов и переработаны параграфы: причины откло -, нения от законов светопоглощения, возможности и преимущества спектрофотометрического метода и исследование фотометрической реакции. [29]
Указанное в ходе определения время ожидания между отдельными операциями следует соблюдать точно, так как откло - нения отражаются на получаемых результатах. [30]