Отклонение - луч
Cтраница 1
 |
Непрерывная случайная ф-ция напряжения ( а и кривая плотности распределения оероят-ности ( б. [1] |
Отклонение луча производится только в одной плоскости Y. Около экрана трубки, перпендикулярно плоскости отклонения луча, натянута тонкая металлич. [2]
 |
Принцип получения изображения спектра ( случай fpfc.| Изображение светящихся полос на экране трубки. [3] |
Отклонение луча по вертикали определяется сигналом, поступающим на вертикально отклоняющие пластины трубки с выхода приемника. Характерной особенностью последнего является очень узкая по сравнению с шириной спектра полоса А / усилителя промежуточной частоты, играющего роль полосового фильтра. [4]
Отклонение луча по вертикали осуществляется амплитудой выходного напряжения измеряемого объекта, вход которого присоединен к выходу ГКЧ. [5]
Отклонение луча на ЭЛТ в вертикальном направлении ( высота импульсов) характеризует амплитуду принятого сигнала, пропорциональную отражающей площади дефекта и измеряемую с помощью аттенюатора. [6]
Отклонение луча - магнитное с помощью отклоняющих катушек. [7]
Отклонение луча по отношению к оси коллиматора может происходить как в горизонтальной, так и в вертикальной плоскостях. [8]
Отклонение луча наблюдается на экране катодной трубки. Отклонение по одной оси пропорционально измеряемой величине, а в перпендикулярном направлении является функцией времени или другого параметра. Осциллограф состоит из катодной трубки, развертывающего генератора ( для электрической развертки времени), усилителя, устройства для питания, синхронизатора ( для регистрации однократных процессов), фотографического устройства. [9]
Отклонение луча может быть электростатическим или магнитным. Так как углы отклонения невелики и требования к размерам пятна не очень жесткие, с успехом можно использовать более экономичное электростатическое отклонение. На одну сторону диэлектрической пластинки испарением в вакууме наносится металлический слой, образующий сигнальную пластинку. Диэлектрик ( например, фтористый магний) наносится на сигнальную пластинку испарением в вакууме. В качестве мишени может также использоваться окисленная алюминиевая пластинка. [10]
Отклонение луча по вертикали осуществляется выходным напряжением исследуемого объекта, преобразованным в канале вертикального отклонения индикаторной части прибора. [11]
 |
Кювета для работы с жидкостями к рефрактометру Хильгер - Ченс. [12] |
Отклонение луча измеряется с помощью зрительной трубы, вертикального стеклянного лимба и микрометра в пределах 30 - 40 с точностью до 0 01 минуты. [13]
 |
Магнитная электронная линза. [14] |
Отклонение луча также может быть электрическим или магнитным. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5