Cтраница 3
Один из методов заключается в том, что на пути световых лучей, выходящих из источника света, соединенного с основным рефлектором, устанавливается отклоняющая оптическая система, которая изменяет направление световых лучей таким образом, что они минуют внешнюю поверхность дополнительного рефлектора и способствуют увеличению суммарного светового потока фары. В описываемом методе дополнительный рефлектор расположен в нижней половине основного рефлектора и имеет световое отверстие в 2 раза меньшее, чем основной; отклоняющая система представляет собой набор призм с вертикальными гранями. Угол отклонения световых лучей призмами увеличивается по мере приближения к оси оптического элемента. [31]
Разновидности этих методов могут обеспечивать цветные и чернобелые изображения при использовании полной растровой развертки, скачкообразной растровой развертки или записи произвольного позиционного типа. Такие системы отображения выполняются с отклонением светового луча и без отклонений. На практике отклонение световых лучей посредством электронно-оптических материалов пока не реализовано. [32]
Высокопараллельные интенсивные световые пучки, которые теперь вполне доступны, могут дать столь же хорошие, а в некоторых случаях даже лучшие результаты, чем электронные пучки, используемые для этой же цели в электронно-лучевых трубках. В настоящее время исследуются различные методы механического и немеханического отклонения световых лучей и имеется ряд сообщений о достигнутых успехах. Хотя эта область находится сейчас в состоянии весьма интенсивного развития и еще рано делать какие-либо заключения, тем не менее можно дать некоторое общее представление о разрешающей способности изображения, которое может быть достигнуто с помощью таких технических средств ( см. также гл. [33]
Дифференциальное уравнение ( 10) связывает кривизну светового луча с градиентом показателя преломления. Путем интегрирования этого уравнения получается соотношение для определения искомого распределения показателей преломления. Это уравнение является основой теневых и шлирных методов, в которых измеряются углы отклонения световых лучей после прохождения через шлиру ( см. разд. [34]
В табл. 1 приведены некоторые соответственные значения координат огибающих, экранной координаты и координат пограничного слоя Т ] о и г) &. Поэтому пограничный слой можно рассматривать как шлирную линзу, фокусное расстояние которой зависит от расстояния до стенки. При расстоянии до экрана Ь, соответствующем Й1 / а2 / з, каустические линии не образуются. Однако в этом случае следует ожидать существенного изменения плотности потока излучения, падающего на экран ( освещенности), вследствие отклонения световых лучей в пограничном слое. [35]