Отклонение - заряженная частица - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Женщины обращают внимание не на красивых мужчин, а на мужчин с красивыми женщинами. Законы Мерфи (еще...)

Отклонение - заряженная частица

Cтраница 1


Отклонение заряженных частиц в магнитном поле используют в ускорителях циклотронного типа, в которых ускоряются протоны и другие положительно заряженные частицы.  [1]

Отклонение заряженных частиц в магнитном поле используется в ускорителях циклотронного типа, в которых ускоряются протоны и другие положительно заряженные частицы.  [2]

3 Фокусировка пучка электронов продольным магнитным полем. [3]

Отклонение заряженных частиц поперечным магнитным полем используется также в масс-спектрометрах - приборах для точных измерений масс атомов и молекул, в установках для электромагнитного разделения изотопов. В телевизионных трубках с помощью магнитного поля производится строчная и кадровая развертка электронного луча по экрану.  [4]

По направлению отклонения элементарной заряженной частицы в магнитном поле ( рис. IV.7.2) судят о знаке ее заряда.  [5]

Процесс основан на отклонении заряженных частиц обрабатываемого материала в электростатическом поле.  [6]

7 Отклонение заряженных частиц полем плоского электростатического конденсатора. [7]

Отметим еще, что для отклонения заряженных частиц, как правило, применяются поперечные поля. Это объясняется их большей эффективностью. Однако в § 5 настоящей главы будет описано магнитное поле, которое скорее относится к категории, продольных.  [8]

9 Схема ионной ловушки.| Размещение отклоняющей системы на горловине широкоугольного кинескопа. [9]

В кинескопах с электростатическим управлением отклонение заряженных частиц электрическим полем не зависит от массы частицы, а определяется только напряженностью электрического поля и зарядом частицы. Поэтому электроны и тяжелые ионы отклоняются одинаково. Таким образом, в электростатических трубках ионы бомбардируют равномерно весь экран, и темного ионного пятна в таких трубках не появляется.  [10]

Определение удельного заряда основано на отклонении заряженных частиц в магнитном и электрическом полях.  [11]

Нахождение удельного заряда основано на отклонении заряженных частиц в магнитном и электрическом полях. Радиус R определяется экспериментально.  [12]

В электровакуумных приборах часто приходится применять электрические или магнитные поля для отклонения заряженных частиц от прямолинейного пути. Чаще всего при этом отклоняемые частицы образуют тонкий и длинный пучок. На языке электронной оптики в этом случае следует говорить об отклонении электронных и ионных лучей, а отклоняющее поле называть электронной призмой.  [13]

Из уравнения ( 2 - 60) видно, что величина отклонения заряженной частицы в магнитном поле пропорциональна отношению заряда частицы к ее массе. При отклонении заряженной частицы в электростатическом поле, как это следует из уравнения ( 2 - 58), величина отклонения не зависит от заряда или массы частицы.  [14]

При этом лоренцова сила (2.68), перпендикулярная магнитной индукции, мешает отклонению заряженных частиц от той средней плоскости, в которой линии магнитного поля параллельны оси циклотрона. Если частица случайно отклонится в этой плоскости в сторону оси с сохранением скорости и, то необходимое для движения по окружности равенство центростремительной силы ти / г и силы Лоренца quB будет нарушено, если магнитная индукция В растет с приближением к оси медленнее, чем обратно пропорционально г. При этом сила Лоренца окажется недостаточной, чтобы удержать частицу на таком уменьшенном расстоянии от оси, и частица вернется на траекторию прежнего радиуса, где при скорости и частицы сила Лоренца снова станет равна центростремительной силе.  [15]



Страницы:      1    2