Cтраница 1
Отклонение заряженных частиц в магнитном поле используют в ускорителях циклотронного типа, в которых ускоряются протоны и другие положительно заряженные частицы. [1]
Отклонение заряженных частиц в магнитном поле используется в ускорителях циклотронного типа, в которых ускоряются протоны и другие положительно заряженные частицы. [2]
![]() |
Фокусировка пучка электронов продольным магнитным полем. [3] |
Отклонение заряженных частиц поперечным магнитным полем используется также в масс-спектрометрах - приборах для точных измерений масс атомов и молекул, в установках для электромагнитного разделения изотопов. В телевизионных трубках с помощью магнитного поля производится строчная и кадровая развертка электронного луча по экрану. [4]
По направлению отклонения элементарной заряженной частицы в магнитном поле ( рис. IV.7.2) судят о знаке ее заряда. [5]
Процесс основан на отклонении заряженных частиц обрабатываемого материала в электростатическом поле. [6]
![]() |
Отклонение заряженных частиц полем плоского электростатического конденсатора. [7] |
Отметим еще, что для отклонения заряженных частиц, как правило, применяются поперечные поля. Это объясняется их большей эффективностью. Однако в § 5 настоящей главы будет описано магнитное поле, которое скорее относится к категории, продольных. [8]
![]() |
Схема ионной ловушки.| Размещение отклоняющей системы на горловине широкоугольного кинескопа. [9] |
В кинескопах с электростатическим управлением отклонение заряженных частиц электрическим полем не зависит от массы частицы, а определяется только напряженностью электрического поля и зарядом частицы. Поэтому электроны и тяжелые ионы отклоняются одинаково. Таким образом, в электростатических трубках ионы бомбардируют равномерно весь экран, и темного ионного пятна в таких трубках не появляется. [10]
Определение удельного заряда основано на отклонении заряженных частиц в магнитном и электрическом полях. [11]
Нахождение удельного заряда основано на отклонении заряженных частиц в магнитном и электрическом полях. Радиус R определяется экспериментально. [12]
В электровакуумных приборах часто приходится применять электрические или магнитные поля для отклонения заряженных частиц от прямолинейного пути. Чаще всего при этом отклоняемые частицы образуют тонкий и длинный пучок. На языке электронной оптики в этом случае следует говорить об отклонении электронных и ионных лучей, а отклоняющее поле называть электронной призмой. [13]
Из уравнения ( 2 - 60) видно, что величина отклонения заряженной частицы в магнитном поле пропорциональна отношению заряда частицы к ее массе. При отклонении заряженной частицы в электростатическом поле, как это следует из уравнения ( 2 - 58), величина отклонения не зависит от заряда или массы частицы. [14]
При этом лоренцова сила (2.68), перпендикулярная магнитной индукции, мешает отклонению заряженных частиц от той средней плоскости, в которой линии магнитного поля параллельны оси циклотрона. Если частица случайно отклонится в этой плоскости в сторону оси с сохранением скорости и, то необходимое для движения по окружности равенство центростремительной силы ти / г и силы Лоренца quB будет нарушено, если магнитная индукция В растет с приближением к оси медленнее, чем обратно пропорционально г. При этом сила Лоренца окажется недостаточной, чтобы удержать частицу на таком уменьшенном расстоянии от оси, и частица вернется на траекторию прежнего радиуса, где при скорости и частицы сила Лоренца снова станет равна центростремительной силе. [15]