Малое отклонение

Cтраница 1

Малое отклонение от единицы указывает на правильность анализа. [1]

Потенциальная энергия электрона вблизи поверхности металла. Ei - в отсутствий электрического поля.. 2 -. обусловленная слабым внешним электрическим полем.. - более сильным полем. gt - энергия, соответствующая отсутствию сил изображения в случае сильного поля. % р-энергия Ферми. Ж [ - х3 - ширина потенциального барьера.| Энергетический спектр автоэлектронов при разных температурах Т и внешних полях Е для ф 4 5 эВ.. у - уровень покоящегося электрона в вакууме. [2]

Малые отклонения j от ( 2) с ростом Т прямо пропорц. [3]

Малые отклонения не соответствуют цели эксперимента. [4]

Пленарные ионы СХ32 -, СХ3 - и СХ3. [5]

Малые отклонения от плоской формы, наблюдаемые у этого иона в некоторых солях, объясняются влиянием кристаллического окружения. Этот ион может образовывать интересные полимерные структуры с ионами металлов. [6]

Малые отклонения энергии частицы от равновесной ташке имеют тенденцию уменьшаться. [7]

Малое отклонение начальной точки, лежащей вокруг или на самом неустойчивом предельном цикле ( рис. 7 - 7, б) приводит к удалению движения системы от периодического. Поэтому движение по неустойчивому предельному циклу физически нереализуемо. [8]

Малыми отклонениями от установившегося режима являются приращения АМЯ и А. [9]

Такое малое отклонение во многих случаях не имеет практического значения, так как при построении обрабатывающих машин часто ставится требование, чтобы звенья механизмов были установлены с упругой связью для того, чтобы иметь, например, возможность зажать на определенный промежуток времени обрабатываемую деталь. [10]

Даже малые отклонения от состояния, в котором газ занимает весь объем, имеют ничтожно малую вероятность, а поэтому фактически не реализуются в природе. Рассмотрим случай, когда заполнено 0 999999 объема. [11]

Дадим малое отклонение упругой линии с изменением значения ф1, оставляя значения k и фо неизменными. [12]

Для малых отклонений движение системы приближенно описывается линеаризованным дифференциальным уравнением, отличающимся от уравнений ( 45) - ( 47) тем, что переменные х, ф и у заменены их приращениями. [13]

Определение малых отклонений в относительной распространенности изотопов для разных образцов облегчается использованием стандартного образца. Измерение распространенности изотопов в эталонном образце до и после анализа исследуемого образца позволяет оценить случайные ошибки последовательных измерений и величину медленного дрейфа в показаниях прибора. Еще одним методом повышения чувствительности прибора при измерении малых изменений относительной распространенности изотопов служит применение двухколлекторнои системы, в которой изучаемые изотопные ионы одновременно собираются на отдельных электродах. Этот метод был впервые предложен Асто-ном [78] и применен Штраусом [1960] для измерения относительных распространенностей изотопов никеля. [14]

Учае малых отклонений от равновесия с0 обозначает равновесную концентрацию вакансий при отсутствии внешних нагрузок. [15]

Страницы: 1 2 3 4