Отношение - интенсивность - пик
Cтраница 2
С помощью этих выражений можно рассчитать величину влияния соседних атомов на частоты колебаний Si-H и Si - H2, связанных с одним, двумя или тремя атомами углерода. Результаты расчетов приведены в табл. 4.2.1. Как видно из нее, пик поглощения 2090 см 1 может быть обусловлен любой колебательной модой растяжения связи Si - H с одним или двумя присоединенными к Si атомами углерода. Учитывая, что содержание углерода в исследованных пленках было небольшим ( отношение интенсивностей пиков в ОЭС-спектрах С / Si 0 06), можно полагать, что пик 2090 см - обусловлен колебательной модой растяжения связи Si-H с одним присоединенным к кремнию атомом углерода. [16]
 |
Рассчитанные частоты колебаний растяжения связи Si-H. [17] |
С помощью этих выражений можно рассчитать величину влияния соседних атомов на частоты колебаний Si-H и Si - Н2, связанных с одним, двумя или тремя атомами углерода. Результаты расчетов приведены в табл. 4.2.1. Как видно из нее, пик поглощения 2090 см 1 может быть обусловлен любой колебательной модой растяжения связи Si-H с одним или двумя присоединенными к Si атомами углерода. Учитывая, что содержание углерода в исследованных пленках было небольшим ( отношение интенсивностей пиков в ОЭС-спектрах C / Si 0 06), можно полагать, что пик 2090 см обусловлен колебательной модой растяжения связи Si-H с одним присоединенным к кремнию атомом углерода. [18]
После извлечения из реактора облученный образец циркония ( весом около 30 мг) растворяют в 2 мл конц. Гафний и цирконий разделяют на ионообменной колонке ( стр. Все операции проводят одновременно с облученными анализируемым материалом и стандартным образцом циркония, содержащим известное количество гафния. Измерив отношение интенсивностей выбранного пика для анализируемого материала и стандартного образца, вычисляют содержание гафния. [19]
При исследовании структуры неизвестного соединения одной из важнейших характеристик является масса молекулярного иона, характеризующая молекулярный вес соединения. Обычно молекулярными считают ионы, обладающие наибольшей массой. Чтобы выяснить, не являются ли эти ионы осколочными, спектр снимают при различных энергиях ионизирующих электронов. Если отношение интенсивности пика рассматриваемого иона к полному ионному току растет при уменьшении энергии электронов, данный ион можно интерпретировать как молекулярный. [20]
При исследовании масс-спектра неизвестного соединения одной из важнейших характеристик является масса молекулярного иона, характеризующая молекулярный вес соединения. Обычно молекулярными считают ионы, обладающие наибольшей массой. Чтобы выяснить, не являются ли эти ионы осколочными, спектр снимают при различных ионизирующих напряжениях. Если отношение интенсивности пика рассматриваемого иона к полному ионному току растет при умень шении энергии электронов, данный ион можно интерпретировать как молекулярный. [21]
Сходный метод превращения воды в водород был использован Алфин-Слейтером, Рокком и Суислокки [29], которые подтвердили необходимость собирания водорода, полученного при полном разложении образца воды, и установили, что отношения, полученные в начале и в конце процесса восстановления, отличаются одно от другого. В работе использовали секторный масс-спектрометр, снабженный магнитом источника. Было найдено, что величина отношения интенсивностей пиков с массой 3 и 2 в большой степени зависела от положения этого магнита и в меньшей степени от других приборных факторов. Прибор был отъюстирован таким образом, чтобы получить максимальную воспроизводимость, а не максимальную абсолютную точность. [22]
Авторы этих работ рассматривают основной пик при 6100 А по существу как обусловленный переходами электрона, захваченного парой анионных вакансий, которые могут иметь по крайней мере дйе ориентации. Рост полосы 6100 А при 77 К происходит по закону 1-го порядка. Центры не вполне устойчивы даже при этой температуре и медленно распадаются с параллельным ростом пика при 6100 А. Аналогичное превращение может быть достигнуто при облучении светом, соответствующим F-полосе. Однако высокая эффективность образования полосы 6100 А при температуре жидкого гелия исключает это предположение. Вместе с Миллером мы предполагаем, что центр при 6100 А представляет собою первичный продукт. Однако при этом найдено, что в свежеоблученных кристаллах облучение светом с длиной волны, меньшей 4000 А, может переводить центры при 6100 А в / - центры. Отсюда видно, почему спектральный состав излучения УФ-лам-пы, используемой для первоначального образования центров окраски, может так сильно влиять на отношение интенсивностей пиков 6100 / 7300 А. [23]
Определение малых отклонений в относительной распространенности изотопов для разных образцов облегчается использованием стандартного образца. Измерение распространенности изотопов в эталонном образце до и после анализа исследуемого образца позволяет оценить случайные ошибки последовательных измерений и величину медленного дрейфа в показаниях прибора. Еще одним методом повышения чувствительности прибора при измерении малых изменений относительной распространенности изотопов служит применение двухколлекторнои системы, в которой изучаемые изотопные ионы одновременно собираются на отдельных электродах. Этот метод был впервые предложен Асто-ном [78] и применен Штраусом [1960] для измерения относительных распространенностей изотопов никеля. Один из коллекторов ионов находился в фиксированном положении, а другой мог перемещаться при помощи сильфонного микрометрического винта. Такая система может быть использована в широком диапазоне отношений масс изотопов. Горман, Джоне и Хиппл [776] распространили этот метод на получение полного масс-спектра; в их масс-спектрометре измерялось отношение интенсивности пиков данных ионов к полному ионному току. [24]
Страницы: 1 2