Cтраница 3
На рис. 119 показан коэффициент сферической аберрации для объекта при бесконечном увеличении, отнесенный к фокусному расстоянию ( сферический коэффициент добротности) как функция отношения потенциалов. [31]
Весьма удобными для использования являются графики, из которых можно непосредственно определить положение изображения и поперечное увеличение в зависимости от положения предмета при различных значениях отношения потенциалов на электродах. [32]
При выборе начального режима ЭЛТ необходимо учитывать, что значительное увеличение ускоряющего напряжения ( для получения большей яркости свечения экрана) приводит согласно (14.1) к уменьшению чувствительности ЭЛТ, а увгличение отношения потенциала третьего ( и других ступеней послоускорения) анода к напряжению второго анода вызывает рост 1скажений изображения на экране. [33]
Распределение потенциала такой линзы мало отличается от распределения для аналитической модели, рассмотренной в предыдущем разделе, с тем только различием, что ее поле имеет большую плотность, поэтому, возможно, придется рассматривать более высокие значения отношения потенциалов. Имеющиеся данные о ее хроматической аберрации получены из предположения о линейном изменении потенциала между электродами [67], которое является достаточно грубым приближением ( разд. Для точного анализа следует полагаться на результаты численных расчетов поля. [34]
Для оценки максимального значения поля и его положения необходимо знать точное распределение потенциала линзы. Отношение потенциалов изображение - объект является численным параметром, обычно определяемым для данных целей как область возможных значений. В проекторных линзах коэффициент напряжения обычно ограничивается электрическим пробоем и степенью пригодности источников питания; следовательно, он должен быть ближе к единице, чем в случае, когда линзы используются в качестве источников. [35]
![]() |
Схемы, поясняющие метод среднего потенциала. [36] |
Чтобы определить сопротивление заземлителя, достаточно определить потенциал одного элемента, так как потенциалы всех элементов равны. Отношение потенциала к току, стекающему в землю, представляет собой сопротивление заземлителя. [37]
У генерирующего детектора отношение пробивного потенциала к рабочему мало по сравнению с обычной вольтовой дугой. [38]
Иногда наблюдаются моменты, величина которых меньше, чем это вычисляется из свободного вращения. С убыванием температуры отношение внутримолекулярного потенциала к kT / Ю все время увеличивается за счет уменьшения величины kT / 10, и вращательные колебания становятся все слабее. Вследствие этого дипольный момент зависит от температуры. [39]
![]() |
К расчету сопротивления полушарового электрода и определению напряжения прикосновения и шага. [40] |
Заземлитель может состоять из одного или многих вертикальных и горизонтальных электродов и характеризуется значением сопротивления от поверхности заземлителя до уровня нулевого потенциала, которое окружающая земля оказывает стекающему с него току. Сопротивление заземлителя определяется отношением потенциала на заземлителе к стекающему с него току. В качестве электродов заземлителя обычно используются как вертикальные стержни, так и горизонтальные полосы, которые могут иметь большую длину. Наиболее просто рассчитывается сопротивление заземлителя полушаровой формы. [41]
![]() |
Схема взаимного расположения электродов. [42] |
Метод измерения с помощью токоизмерителъных клещей заключается в измерении суммарного тока, протекающего по всем заземляющим спускам, ногам или стойкам опоры, и потенциала заземляющего спуска относительно вспомогательного электрода, помещенного в зону нулевого потенциала. Сопротивление заземлите-лей определяется как отношение потенциала к суммарному току. На нагруженных ВЛ ПО кВ токи, стекающие в землю по опорам, составляют от нескольких сот миллиампер до нескольких ампер. [43]
Для ( V2 - Uo) l ( V-С / 0) 7 фокусное расстояние уменьшается с увеличением длины среднего электрода. При более высоких значениях отношения потенциалов наблюдается обратная тенденция. Для малых отношений напряжений увеличение расстояния между электродами оказывает такое же воздействие на фокусное расстояние, как и увеличение длины центрального электрода. Влияние ширины зазора максимально при минимальной длине центрального электрода. [44]
Структура указанных уравнений показывает, что отношение потенциалов входит в них в нелинейном виде, поэтому нужно всякий раз решать эти уравнения для каждого отношения потенциалов, за исключением очень малых значений этого отношения, когда могут быть использованы формулы тонкой линзы, и очень больших значений, когда некоторые уравнения могут быть упрощены. Можно аппроксимировать характеристические оптические величины степенными рядами отношения потенциалов [44], но результирующее выражение также будет чрезмерно громоздким, а его точность будет зависеть от диапазона отношения напряжений. Зависимость этих величин от отношения напряжений для реальных линз будет исследована в соответствующих разделах численными методами. [45]