Cтраница 1
Многократное отражение луча, вошедшего в полость через небольшое отверстие, обеспечивает практически полное его поглощение стенками камеры. [1]
Многократные отражения луча, падающего на интерферометр, приводят к интерференции многих параллельных пучков в проходящем и в отраженном свете. Если устройство работает в проходящем свете, то в фокальной плоскости объектива создается интерференционная картина. [2]
Применение многократного отражения луча внутри прибора дает возможность в ряде случаев заменить зеркальный гальванометр с подвижной частью на подвесе ( см. рис. 12.6) и отдельными осветителем и шкалой ( прибор, требующий тщательно выполненной постоянной установки) переносным прибором со световым указателем. Но применение светового указателя требует специального питания для лампы осветителя и существенно усложняет внутреннее устройство прибора. Закручивание растяжек и нити подвеса в показывающих приборах используется для получения противодействующего момента. В приборах с установкой подвижной части на осях для создания этого момента служат спиральные пружины ( / на рис. 12.8), изготовляемые из фосфорной бронзы. [3]
![]() |
Схема устройства внутреннего светового указателя, проектирующегося на двустрочную шкалу. [4] |
Применение многократного отражения луча внутри прибора позволяет в ряде случаев заменить зеркальный гальванометр с подвижной частью на подвесе и отдельными осветителем и шкалой ( прибор, требующий тщательно выполненной постоянной установки) переносным прибором со световым указателем. С другой стороны, применение светового указателя требует дополнительного источника электроэнергии для питания лампы осветителя и существенно усложняет внутреннее устройство прибора. [5]
В светофильтре в результате многократных отражений луча от полупрозрачных слоев происходит многолучевая интерференция. [6]
![]() |
Схематическое изображение системы накачки в цилиндрическом отражателе с коническими окончаниями.| Ход лучей в отражающем конусе. [7] |
Очевидно, что для многократного отражения луча в конусе необходимо, чтобы угол раствора его 20 был небольшим. [8]
![]() |
Зоны перемещения ПЭП. [9] |
ПЭП с изделием, при контроле используют многократное отражение луча. [10]
![]() |
Принципиальная схема интерференционного светофильтра.| Полуширина пропускания светофильтра. [11] |
В светофильтре происходит явление многолучевой интерференции в результате многократных отражений луча от полупрозрачных слоев. [12]
Внутренние поверхности пластин имеют покрытия Si и S2, обладающие высоким коэффициентом отражения. Многократные отражения луча, падающего на прибор, приводят к интерференции многих пучков, которые в проходящем и отраженном свете создадут интерференционную картину. [13]
При таких условиях луч полностью отражается от электрода. Многократное отражение луча от указанных поверхностей повышает величину полезного сигнала, поступающего в анализатор. Однако надо иметь в виду, что интенсивность сигнала зависит от нескольких факторов. [15]