Cтраница 3
По сравнению с предыдущим термостатом у последнего значительно худите энергетические показатели, так как минимальное потребление энергии термостатом имеет место при температурах, близких к максимальной окружающей температуре. Преимуществом полупроводникового термостатирования в эгом случае является возможность настройки температуры термостатирования, равной среднестатической температуре для выбранного отрезка времени. [31]
Величина At подбирается так, чтобы полученные пути Sx и Sy не превышали размеров одной клетки. Величины Sx и Sv, вычисленные в каждой последующей клетке, откладываются от конца предыдущего вектора. При построении учитывается направление градиентов потенциалов. Величина градиента потенциала в течение выбранного отрезка времени ( 3 - 5 лет) изменяется, как показал опыт, незначительно. Поэтому измерение его для каждого моделируемого отрезка времени производится однократно. [32]
Ось абсцисс разбивают на некоторое число шагов с равными или неравными интервалами. В пределах каждого шага функцию считают постоянной. Осреднение проводят по равенству площадей трапеции и прямоугольника для каждого шага. Среднее значение ординаты на каждом шаге проецируют на ось ординат и полученные точки соединяют с левым концом выбранного отрезка интегрирования, расположенного вдоль оси абсцисс влево от начала координат. [33]
Ось абсцисс разбивают на некоторое число шагов с равными или неравными интервалами. В пределах каждого шага функцию считают постоянной. Осреднение проводят по равенству площадей трапеций и прямоугольника для каждого шага. Среднее значение ординаты на каждом шаге проецируют на ось ординат и полученные точки соединяют с левым концом выбранного отрезка интегрирования, расположенного вдоль оси абсцисс влево от начала координат. [34]
Ось абсцисс разбивают на некоторое число шагов с равными или неравными интервалами. В пределах каждого шага функцию считают постоянной. Осреднение проводят по равенству площадей трапеции и прямоугольника для каждого шага. Среднее значение ардинаты на каждом шаге проецируют на ось ординат и полученные точки соединяют с левым концом выбранного отрезка интегрирования, расположенного вдоль оси абсцисс влево от начала координат. [35]
Уменьшая мысленно земной эллипсоид в М раз, получают его геометрнч. Величина 1: ДГ определяет г л а в н ы и, или общий, масштаб карты. Это - величина, обратная отношению бесконечно малого отрезка ZS на земном эллипсоиде к его изображению do на плоскости: 1 /, dS / do, причем ц зависит от положения точки на эллипсоиде и от направления выбранного отрезка. Численное значение главного масштаба М учитывается только при вычислениях координат точек К. [36]
Уменьшая мысленно земной эллипсоид в М раз, получают его геометрич. Величина 1: М определяет главный, или об щ и и, м а с ш т а б карты. Это - величина, обратная отношению бесконечно малого отрезка dS на земном эллипсоиде к его изображению da на плоскости: l / idS / da, причем р, зависит от положения точки на эллипсоиде и от направления выбранного отрезка. Численное значение глан-ного масштаба М учитывается только при вычислениях координат точек К. [37]
Радиус кривизны пластинки р определяется опытным путем по следующей методике. Кривая, по которой изогнулась пластинка, копируется на бумагу. На полученной кривой определяется участок, в котором производилось измерение твердости осадка. Поворотом прямолинейного зеркала, приложенного перпендикулярно к поверхности бумаги, отыскивается такое его положение, при котором происходит совмещение истинной кривой ( на бумаге) с ее изображением в зеркале. Это положение зеркала фиксируется проведением прямой до пересечения с дугой. Затем с установкой зеркала в другие точки выбранного отрезка кривой операция повторяется. В результате получается пересечение проведенных прямых между собой. Расстояние от средней точки пересечения до кривой и будет радиус кривизны этого участка. [38]