Cтраница 3
То есть методами локального анализа. [31]
Невозможно достичь понимания локального анализа без предварительного изучения его работы в разрешимом случае. [32]
При разработке метода локального анализа газов было предварительно исследовано влияние некоторых параметров ( диаметр вспомогательного электрода, величина рабочего промежутка, атмосфера, емкость, сила тока, индуктивность, полярность, пересчет), на величину пятен прожога металла аналитической искрой. [33]
Гипотетическая поверхность решения y ( t, k в области неопределенности двух параметров. Аг, и k2. [34] |
Рассмотрим сначала методы локального анализа чувствительности. [35]
Однако при проведении локального анализа чувствительности полученные результаты могут быть отнесены лишь к малой окрестности точки в пространстве констант скорости и всегда остается открытым вопрос: насколько эти результаты будут достоверны при более или менее существенном изменении начального выбора констант скорости. [36]
Рассмотрение работ по рентгено-флуоресцентному локальному анализу приводит к выводу, что частичная модернизация существующих приборов не дает желаемых результатов. Требуется разработка такой схемы метода и конструкции прибора, в которых высокая удельная мощность рентгеновского излучения должна сочетаться с хорошим спектральным разрешением для получения флуоресцентных спектров с большой контрастностью, что особенно существенно при их малой интенсивности. [37]
Теория основана на локальном анализе гидродинамических уравнений и уравнения Пуассона. Вводятся подвижные оси координат - X, у, которые искривляются вместе с дифференциально-вращающимся лотоком. Исследуется временная эволюция возмущения, пространственная форма которого - е JI V) считается неизменной в подвижной системе. [38]
Компактность вейвлетов позволяет осуществить локальный анализ сигналов и проследить изменчивость их частотно - масштабных характеристик. [39]
Особое место занимают методы локального анализа. Существ, роль среди них играют рентгеноспектральный микроанализ ( электронный зонд), масс-спектрометрия вторичных ионов, спектроскопия оже-электронов и др. физ. Они имеют большое значение, в частности, при анализе поверхностных слоев твердых материалов или включений в горных породах. [40]
С учетом возрастающего значения локального анализа, перспектив дальнейшего применения и его особенностей важно удовлетворить потребности в соответствующих СО. Первоочередными являются те, которые необходимы радиоэлектронной промышленности и отраслям, обеспечивающим ее материалами, а также многочисленным отраслям, для деятельности которых важен контроль состава поверхностных слоев, образуемых средствами электрохимической, термодиффузионной и других технологий. [41]
ИОННЫЙ МИКРОАНАЛИЗ, метод локального анализа, основанный на регистрации масс-спектров вторичных ионов с микроучастков пов-сти твердых тел. Исследуемый образец в вакууме бомбардируют сфокусированным пучком первичных ионов ( Аг, О, О, С8; диаметр пучка 1 - 100 мкм, энергия 10 - 15 - 10 - 16 Дж, штотн. [42]
Особое место занимают методы локального анализа. Существенную роль среди них играют рентгеноспектраль-ный микроанализ ( электронный зонд), масс-спектрометрия вторичных ионов, оже-спектроскопия и др. физич. Они имеют большое значение, в частности при анализе поверхностных слоев твердых материалов или включений в горных породах. [43]
Есть и другие способы локального анализа. [44]
Теорема 4.12 чрезвычайно важна для локального анализа. [45]