Перемещение - зеркало
Cтраница 4
Отраженный от эпитаксиальной структуры световой луч широкого спектрального состава анализируется с помощью интерферометра Майкельсона. Одно из зеркал интерферометра совершает возвратно-поступательное движение около некоторого среднего положения, для которого оптическая длина пути в обоих плечах одинакова. Перемещение зеркала на некоторое расстояние создает сдвиг фаз между лучами, прошедшими через два ш еча интерферометра. Зависимость интенсивности двух интерферкрующих лучей на выходе прибора, которая регистрируется фотоприемником, от перемещения зеркала и, следовательно, от сдвига фаз называют интерферограммой. Интерферограмма представляет собой суперпозицию кривых, сответствующих каждой из присутстьующих в спектре источника света частот. Среднему положению движущегося зеркала на интерферограмме соответствует максимум центральной серии ее пиков. Когда вводимая движущимся зеркалом разность фаз компенсирует разность фаз, создаваемую при отражении от эпитаксиальной структуры, возникает максимум сигнала сопутствующих боковых серий пиков интерферограммы. [46]
Заметим, что из большого числа известных методов трансмиссионных измерений уместно выделить метод Брауна [39], обеспечивающий получение 0 ( v, у) для различных хорд почти с одинаковой точностью. Идея метода основана на сканировании центрального лу ча, отражаемого вогнутым зеркалом и осуществляющего веерное просвечивание столба плазмы в выбранной плоскости. Перемещения зеркала и спектрального прибора связываются специальным сервомеханизмом. [47]
 |
Конструкция интерферометра Майкельсона. [48] |
Удобство такого рассмотрения связано с тем, что образующаяся в интерферометре картина получается такой, какой она была бы при интерференции в пластинке, ограниченной плоскостями Z, и R. Перемещения зеркал Z, и Z2 вдоль лучей позволяют непрерывно изменять толщину h мнимой пластинки. Плоскость R может находиться ближе и дальше Z, и может пересекать ее, что в реальных пластинках невозможно. Вдоль пересечения этих плоскостей локализуется нулевая интерференционная полоса, так как разность хода между интерферирующими лучами здесь равна нулю. [49]
Методика измерений параметров диэлектриков при помощи интерферометров заключается в наблюдении интерференционной картины без образца и с образцом диэлектрика. При помещении образца на пути зондирующей электромагнитной волны изменяется длина ее хода, что эквивалентно некоторому удалению отражающего зеркала от передающей антенны, поэтому при приближении зеркала к передающей антенне можно восстановить прежнее положение интерференционной картины. По перемещению зеркала для восстановления прежнего положения интерференционной картины ( обычно положение минимума поля в апертуре приемной антенны) определяется диэлектрическая проницаемость материала образца. Тангенс угла диэлектрических потерь материала образца находится по измерениям ширины минимума интерференционной картины, например, по уровню удвоенной мощности. [50]
При малых значениях параметра связи ( Qc 1) смещение А / С относительно величины Кп nn / L мало и для случая L1 L2 L A / C - l / Qc / 2 / L. Максимального значения интенсивности в своем резонаторе при движении зеркала 4 мода будет достигать тогда, когда ее сдвиг по частоте относительно того значения, которое она имела при Qc 0, равен нулю. При перемещении зеркала 4 все реализуемые в трехзеркальном резонаторе моды изменяют свою частоту по отношению к частотам, соответствующим невозмущенному положению, что приводит к уменьшению интенсивности моды в своем резонаторе и, следовательно, к уменьшению ее добротности. Причем добротность этой моды в другом резонаторе возрастает. [51]
При использовании прибора в качестве микроскопа специальная призма уводится рукояткой в сторону и изображение объекта после объектива рассматривается наблюдателем через окуляр. Сменные объективы укреплены в револьверном устройстве. Масштаб регулируется перемещением зеркала. Резкость изображения достигается перемещением объектива с помощью фокусировочного микрометрического винта. [52]
 |
Схема интерферометра Майкельсона. Si и 2 - зеркала. Р - разделительная пластинка. РЗ - компенсационная пластинка. [53] |
При малой толщине воздушного слоя в поле зрения зрительной трубы наблюдаются редкие интерференционные кольца большого диаметра. При большой толщине воздушного слоя, т.е. большой разности длин плеч интерферометра, наблюдаются частые интерференционные кольца малого диаметра уже около центра картины. Очевидно, что перемещение зеркала на четверть длины волны будет соответствовать при малых значениях угла г переходу в поле зрения светлого кольца на место темного, и наоборот, темного на место светлого. [54]
 |
Схема устройства интерферометра с фотоумножителем для сч (. та ференционных полос. [55] |
С помощью усилителя постоянного тока и триггера с катодной связью из выходного фотоумножителя 7 формируются импульсы, каждый из которых соответствует одному периоду изменения фототока. Эти импульсы поступают на электронный счетчик ПС-64, а с его выхода - на электромеханический счетчик. Поскольку один импульс соответствует перемещению зеркала 5 на половину длины волны, цена деления датчика составляет 0 273 мкм. [56]
Одним из наиболее чувствительных методов измерения перемещений является интерференционный. Луч монохроматического света разделяется с помощью полупрозрачного зеркала на два луча, которые затем с помощью того же зеркала снова объединяются и попадают на фотоэлемент. Длина пути одного из лучей изменяется при перемещении зеркала, при этом световые волны в двух световых потоках приходят со сдвигом фаз, зависящим от входного перемещения. В результате интерференции интенсивность суммарного светового потока, воспринимаемого фотоэлементом, периодически изменяется от минимума до максимума при перемещении зеркала на 0 25 длины световой волны. [57]
Одно из зеркал ( М2 на рис. 1.5) может перемещаться с помощью микрометрического винта, оставаясь параллельным самому себе. При его перемещении изменяется разность хода и интерференционные полосы на экране Р смещаются. Смещение интерференционной картины на одну полосу происходит при перемещении зеркала М2 на расстояние, равное половине длины волны. [58]
Другой тип электромеханических проекторов использует отображение информации для каждого объекта. Каждый проекторный модуль состоит из сервосистемы, отрабатывающей положение символа посредством смещения диска, на котором расположены диапозитивы в соответствии с управляющими сигналами ЭВМ. Установка символа ( или группы символов) в заданное место экрана осуществляется путем перемещения зеркала под воздействием входных управляющих сигналов с ЭВМ. Расположенные на индивидуальных проекторах светофильтры позволяют менять цвета по командам из электронно-вычислительной машины. [59]
Страницы: 1 2 3 4