Cтраница 2
В общем, образец пленки анализируется без разрушения, при условии, что пленка размещается на соответствующим образом выбранной подложке, которая не содержит элементов, имеющихся в пленке. Следы, количеств таких элементов в подложке могут привести к ошибке, так как первичное излучение проникает через пленку на несколько микрон в глубину. Характеристическое излучение от этих следов элементов дополняет излучение, эмиттируемое пленкой; следовательно, выбор соответствующей подложки - критичен. Анализ образцов пленок твердых тел требует эталонов с анализом состава изготовления и с толщиной, ровно как и по составу, близкими к исследуемому образцу. Такие эталоны должны быть прокалиброваны независимыми методами, такими как: колориметрия, атомная адсорбция пли эмиссия рентгеновских лучей на растворах. В этом основной недостаток метода эмиссии рентгеновских лучей и его ограничение к применению для количественного анализа образцов, который все же часто проводится в случае, если отсутствуют калиброванные эталоны. Тем не менее пленки на подложках составляют наиболее часто используемый тип образцов. [16]