Cтраница 3
Вообще говоря, численное значение IP несколько изменяется в зависимости от того, в каком колебательном состоянии система находилась до и оказалась после ионизации. Первый воплощает принцип Франка-Кондона, согласно которому / при быстром возбуждении системы, например электронным ударом, вследствие кратковременности процесса межъядерные расстояния остаются неизменными и после вырывания электрона геометрия кластера просто не успевает измениться. В фотоэлектронном7спектре такой переход обладает наибольшей интенсивностью. Другие пики спектра обусловлены ионизацией с возбужденных колебательных состояний системы. При этом переход в основное состояние ионного кластера, требующий минимальную энергию возбуждения, является адиабатическим. [31]
Сцинтилляторы, которые наиболее часто применяются для гамма-спектрометрии, представляют собой одиночные кристаллы йодида натрия, активированного таллием. Сцинтилля-ционные спектры гамма-излучения состоят из одного или более острых характерных фотоэлектрических пиков, соответствующих энергиям источника гамма-радиации. Поэтому эти спектры полезны для идентификации, а также для обнаружения гамма-излучающих примесей в препарате. Кроме характерных пиков, в спектре обычно имеются и другие пики, обусловленные вторичным воздействием радиации на сцин-тиллятор и его окружение, таким, как обратное отражение, аннигиляция позитронов, суммирование совпадений и флуоресцентные рентгеновские лучи. Калибровка прибора производится с помощью известных образцов радиоактивных изотопов, энергетические спектры которых определены. Форма спектров будет различной в зависимости от используемых приборов; это определяется различной формой и размерами кристаллов, применяемыми защитными материалами, расстоянием между источником излучения и детектором, а также типами дискриминаторов, используемых в амплитудных анализаторах импульсов. При использовании спектра для установления подлинности радиоизотопов необходимо сравнивать спектр исследуемого образца со спектром известного вещества, радиоактивность которого измерена тем же прибором и при тех же условиях. [32]
На отклоняющие пластины подается переменный потенциал таким образом, что изотопы последовательно направляются на щель коллектора, расположенную на оптической оси. На выходе прибора расположен фотоумножитель, сигналы которого синхронно с переключением пиков направляются в соответствующие ячейки. Отсчеты накапливаются и затем производится измерение изотопных отношений. Во время переключения пиков на счетчик подается запирающий импульс длительностью 50 мкс, так что в заданном интервале можно измерять любые две линии, несмотря на то что между ними могут располагаться другие пики. [33]
Изящный метод определения гомологов в двухосновных кислотах основан на применении масс-спектрометра с высоким разрешением. Предположим, например, что нам необходимо проанализировать малое количество янтарной кислоты в адипиновой кислоте. Этот пик налагается на интенсивный пик в спектре янтарной кислоты, отвечающий ионам [ СН3ОСО ( СН2) 2СО ], образованным при отрыве ОСН3 от молекулярных ионов. Другие пики в спектре эфира янтарной кислоты, за исключением малоинтенсивного пика молекулярных ионов, также налагаются на пики ионов эфира адипиновой кислоты. Однако ионы с массой 115 отличаются по составу ( на величину С2Н4 - - СО), и различие между ними может быть обнаружено при высоком разрешении, когда можно установить разницу между С2Н4 и СО. Определяемая разность масс равна 3 64 - 1СГ2 а. УИ / ДМ менее 3200, и полное разрешение может быть получено на обычном масс-спектрометре с двойной фокусировкой. [34]
В кристаллической решетке металла вследствие облучения нейтронами или другими энергетическими частицами происходят изменения, во многих отношениях напоминающие вызываемые сильной холодной деформацией. В решетке появляются вакансии, междоузельные атомы и дислокации: все эти дефекты вызывают увеличение скорости диффузии специфических примесей или легирующих компонентов. В процессе облучения могут происходить локальные повышения температуры - температурные пики, которые подразделяются на два вида. Одни пики относятся к случаям, когда атомы или совсем не покидают свои места в кристаллической решетке либо покидают их в незначительном количестве. Другие пики характеризуются переходом многих атомов в междоузлия кристаллической решетки. [35]
Распад особенно характерен для соединений типа спиртов и аминов, и эти вещества должны всегда исследоваться при возможно более низкой температуре. Две быстрые развертки спектра в начале и конце серии измерений часто позволяют обнаружить процесс разложения. В дальнейшем было показано, что ионы с массой ( М - 20) отражают присутствие продуктов термического разложения, образующихся частично в нагретой трубке из нержавеющей стали, соединяющей натекатель с ионизационной камерой. Применение стеклянной системы напуска уменьшает процессы разложения на горячих стенках. Другие пики, соответствующие ионам ( М - 18) и ( М-32), по-видимому, характеризуют распад под воздействием [ электронной бомбардировки. [36]
Достоинством счетных устройств является высокая скорость, с которой могут быть получены точные измерения. Исключаются возможные субъективные ошибки, связанные с измерением оператором большого числа пиков в масс-спектре. Наиболее совершенно устройство, в котором цифровая машина комбинируется с быстродействующим счетчиком. Это обеспечивает возможность проведения быстрого и недорогого анализа сложных многокомпонентных смесей углеводородов. Такая система детально описана для гальванометра с оптическим цифровым преобразователем, причем гальванометр выключается между пиками, так что высота пика записывается от истинной базовой линии независимо от того, доходит ли впадина между пиками до этой линии или нет. Это преимущество имеет значение при работе с углеводородами, в других случаях оно становится недостатком. Небольшие неразрешенные пики, возникающие по обеим сторонам интенсивных пиков и проявляющиеся в небольшом изменении наклона, не регистрируются и не могут быть обнаружены. Не могут быть также обнаружены метастабильные пики, а также все другие пики, имеющие размытую форму, не регистрируются особенности формы пиков, указывающие на наличие частично разрешенных мультиплетов или плохую юстировку прибора. [37]