Cтраница 2
Основную часть среди электронов, покидающих поверхность объекта ( 90 %), составляют истинно вторичные электроны. На фоне непрерывного распределения вторичных электронов наблюдаются небольшие пики при строго фиксированных для каждого элемента значениях энергии. Эти пики относятся к так называемым Оже-электронам. Их происхождение связано, как и происхождение рентгеновского характеристического излучения, с возбуждением атомов мишени при образовании электронной вакансии на одной из внутренних электронных оболочек. [16]
Гидролизах нейтрализуют смолой амберлит ШС-50 ( Н - форма); смолу отмьгпают водой от материала, поглощающего при 260 ммк. РНК дает пять фракции, поглощающих в УФ-свето ( 2 ( Ю ммк), которым соответствуют небольшие пики. К остатку прибавляют воду и раствор снова упаривают. [17]
Было продемонстрировано1 [72], что величина тока приблизительно пропорциональна средней скорости роста трещин и в условиях, когда система находится под потенциостатическим контролем. Результаты замеренного тока относятся к образованию Ti3 и к окислению вновь образующейся в процессе растрескивания поверхности. Однако небольшие пики указывают на то, что в микроскопической области рас трескивание не яввляется непрерывным. [18]
Апкер и Тафт [349, 350] наблюдали фотоэлектронную эмиссию на сублимированных пленках / С / и Rbl и монокристаллах / С /, которая, по их данным, обусловлена ионизацией F-центров посредством экситонов. Упомянутыми авторами установлено, что в кривых спектрального распределения фотоэлектронной эмиссии положение максимумов хорошо совпадает с первой полосой собственного поглощения исследованных соединений. Кроме того, обнаружены небольшие пики, связанные с поглощением в ( З - полосе. [19]
Из работы Хараша [5] хорошо известно, что фенол, получаемый при кумолошм процессе, может содержать такие примеси, как окись мези-тила, а-метилстирол и ацетофенон. Mace-спектрометрическое исследование образца фенола, полученного из кумола, показывает, что, кроме этих соединений, могут образовываться и другие продукты. Например, обычный анализ обнаруживает небольшие пики ионов М / е 131 и 132, которые указывают на присутствие неизвестной примеси. [20]
В области малых отрицательных потенциалов ( - 0 36) в растворах средних концентраций ( 10 - 4 - 10 - 2 М) на С - ф-кривых наблюдаются площадки, которые можно связать с изменением ориентации молекул никотиновой кислоты. Различие в С - ф-кривых, снятых в растворах этих веществ, обнаруживается также в области больших отрицательных потенциалов. Так, в растворах никотиновой кислоты наблюдается рост емкости, но пиков десорбции нет. В присутствии амида никотиновой кислоты наблюдаются небольшие пики, которые, по-видимому, связаны с десорбцией амида. Это дает основание для проведения расчетов на основе модели двух параллельных конденсаторов. [21]