Cтраница 2
Тогда план измерения ( х, ц), в котором вектор плана измерения jc обеспечивает выполнение условия (8.20), называется ортогональным. [16]
Для него Nnn - Далее многократные измерения будут рассматриваться в предположении, что план измерения ( х, ji) задан. [17]
Таким образом, для того чтобы сформировать вектор многократного измерения нужно определиться с планом измерения и со схемой измерения. Тогда план измерения ( х, ц) однозначно определит структуру случайного вектора многократных измерений. [18]
Погрешность оценки Z ( x), получаемой с использованием метрической шкалы на основе плана измерения ( х, ц), является случайной величиной. Ее полная характеристика представляется функцией ( плотностью) распределения. [19]
Решения измерительных задач первого и второго типа на основе многократных измерений излагаются при допущении, что соответствующие им планы измерения заданы. [20]
Рассмотрим сначала задачи, связанные с обработкой многократных измерений с использованием линейной модели статической характеристики СИ, в предположении, что план измерений ( х, / /), задан. [21]
План измерения для измерительных задач второго типа включает три структурных элемента: два из них выполняют ту же функцию, что и в плане измерения первого типа, а третьим элементом является параметр решающей функции. [22]
Если при проверке некоторые требования оказались не выполненными, то необходимо вернуться к предыдущим этапам процедуры измерения: например, уточнить модель объекта или измерения, или скорректировать план измерения, выбрать другие СИ, выполнить дополнительные измерения. [23]
Следовательно, для того чтобы неисключенная систематическая погрешность удовлетворяла условию mt ( x) at, нужно значения параметров адекватной линейной модели статической характеристики 4 / 1 2 определить на основе многократных измерений объемом Д-9 в каждой точке плана измерения. [24]
Решаются эти задачи на основе использования экспериментальных шкал интервалов. План измерения таких задач включает два структурных элемента: первый элемент содержит информацию об измеряемых величинах, а второй - об объемах многократных измерений этих величин. [25]
Таким образом, для того чтобы сформировать вектор многократного измерения нужно определиться с планом измерения и со схемой измерения. Тогда план измерения ( х, ц) однозначно определит структуру случайного вектора многократных измерений. [26]
Непосредственной реализации многократного измерения предшествует обязательная процедура планирования измерений. Структура и план измерения зависит от типа решаемой измерительной задачи. [27]
Таким образом, ортогональный план измерения обладает важными достоинствами. Поэтому при формировании плана измерения предпочтение следует отдавать именно ортогональному плану. [28]
Решение измерительной задачи второго типа также рассматривается применительно к альтернативным в качественном отношении классам эквивалентности на использовании иной меры удаленности математической модели от истинной функции отклика. В качестве такой меры принят модуль вектора, составляющими которого являются отклонения математической модели от истинной функции отклика на векторе плана измерения. [29]
Кроме того, даже в пределах одного классификационного признака имеет значение последовательность измерений во времени. Измерения, выполненные в разные интервалы времени, можно отнести к разным сериям. При составлении плана измерений должна быть прежде всего установлена описанная классификация. [30]