Рассмотренный план

Cтраница 1

Рассмотренный план обеспечивает максимальное заполнение площади кристалла, минимальное число пересечений межблочных соединений и форму кристалла, близкую к квадратной. Видно, что накопитель 1 занимает приблизительно 0 4 площади кристалла. Это соотношение справедливо для большинства ИС памяти с записью и считыванием емкостью более 256 бит. [1]

Рассмотренные планы, как легко убедиться, являются одновременно и центрированными, и вписанными. Подчеркнем еще раз, что симплекс-планы адамаровской структуры нельзя построить, если число опытов не кратно четырем. [2]

Рассмотренный план построен так, что каждый фактор варьируется на двух уровнях, причем в опытах перебираются все возможные комбинации двух уровней факторов. Никаких иных комбинаций, кроме четырех приведенных в строках матрицы (8.4), не существует. Такой план называют планом полного факторного эксперимента на двух уровнях. Здесь два в основании - число уровней; показатель степени - число факторов; все выражение 22 равно числу опытов. [3]

Рассмотренный план эксперимента не учитывает ряда важных факторов. К четвергу средняя выработка на одного рабочего может возрасти не за счет изменения скорости обработки, а за счет натренированности в работе с новым резцом. На выработку может влиять качество станка, на котором работает тот или иной рабочий. Можно составить такой рандомизированный блок, при котором будут случайным образом выбираться рабочие; эти рабочие будут работать на разных станках в случайной последовательности, а скорость обработки будет случайным образом изменяться у каждого рабочего по дням недели. Превращение таких систематических ошибок, которые обусловлены влиянием различия квалификации рабочих, качества станков, неодинаковой производительностью труда в разные дни недели или разное время рабочего дня, в случайные обеспечивает значительное увеличение точности - эксперимента. [4]

Рассмотренные планы отсеивания являются статическими. Для отсеивания незначимых факторов линейной регрессионной модели (2.14) могут быть использованы и последовательные планы. Наиболее распространенной последовательной стратегией является стратегия двухстадийного группового отсеивания, которая состоит в следующем. [5]

Рассмотренный план исследования, позволяя достаточно полно изучить смешение при минимальном объеме эксперимента, является все же достаточно трудоемким. [6]

Особенность рассмотренного плана: новые точки ( с 9 по 16 в табл. 27) отстоят от центра эксперимента в 1 5 раза дальше, чем периферийные точки исходного ядра. При этом более чем вдвое увеличивается размер изучаемого факторного пространства, однако возникает опасность, что в некоторых точках плана опыты не смогут быть выполнены. [7]

Следовательно, рассмотренный план добычи и соответствующая ему система оценок оптимальны. [8]

Контрольная карта для статистического регулирования ка чества электронно-лучевой сварки с несквозным проплавлением ( по В. Н. Волченко. [9]

Контроль по рассмотренным планам выполняется по альтернативному признаку. Чтобы получить приемный уровень достоверности контроля, объем выборки ( число изделий, взятых из партии для контроля) должен быть относительно большим. Это снижает экономичность и оперативность контроля. [10]

При испытании по рассмотренным планам в этом случае возможно назначение сокращенных значений допусков на параметр и фиксация условных отказов, что значительно сократит время испытаний ( см. гл. [11]

Заметим, что в рассмотренных планах все трехфакторные взаимодействия и взаимодействия высших порядков, а также корреляции этих взаимодействий с дрейфом предполагаются равными нулю. [12]

В приведенной задаче лучший из двух рассмотренных планов испытаний ( один из которых является однофакторным, а второй - многофакторным) с этой точки зрения достаточно очевиден. [13]

Так, в 1996 году из более 30 рассмотренных планов, 5 были отклонены. [14]

Для локализованной области, содержащей определенную на первом этапе точку максимального выхода, с целью уточнения местонахождения истинного оптимума могут быть вновь применены рассмотренные планы. Таким образом может быть обеспечена последовательная все более точная локация оптимальной комбинации условий. [15]

Страницы: 1 2