Cтраница 2
![]() |
Зависимость эффективного числа N3j интерферирующих пучков эталона Фабри-Перо от коэффициента отражения R его зеркал при различных значениях отклонения At зеркал от взаимопараллельности. [16] |
При этом следует иметь ввиду, что высокий коэффициент отражения не всегда полезен. Он имеет некоторое оптимальное значение, определяемое технологией обработки пластин эталона; превышение оптимального значения помимо уменьшения интенсивности интерференционной картины еще и бесполезно, так как существенно не увеличивает разрешающую силу эталона. [17]
Оптиками принято при полировке оптических поверхностей точность изготовления называть качеством поверхности и оценивать ее в долях полосы AN, понимая под этим относительную величину местного искажения интерференционной полосы, наблюдаемой в воздушном клине при наложении на обрабатываемую деталь пробного стекла. Для пластины эталона Фабри-Перо пробное стекло заменяет вторая, парная ей, пластина эталона. [18]
Выражение ( 198) показывает, что отношение расстояния между соседними интерференционными порядками - ( ДА) к ширине интерференционного максимума б А, однозначно определяется числом эффективных пучков Ne. Следовательно, для уверенных измерений реальных значений б К выгодно использовать большие коэффициенты отражения при любом расстоянии между пластинами эталона Фабри - Перо. [19]
Сравним сисам с эталоном Фабри-Перо. Однако зеркальные пластины эталона никогда не делают столь больших размеров, как дифракционные решетки; кроме того, много света теряется при прохождении через светоделительные покрытия пластин эталона и предварительный монохроматор. Все это делает сисам значительно более светосильным по сравнению с эталоном Фабри-Перо. [20]