Отражающая пластина

Cтраница 4

Рассмотрим слоистую проволочную антенну. Излучатель расположен волнообразно на диэлектрической пластине, для получения поперечного излучения должны быть соблюдены размеры, приведенные на рис. 8.7. За излучателем на расстоянии Х / 4 находится отражающая пластина, которая может быть заменена резонатором, как показано на рисунке. [46]

Эскиз антенны с волнообразным расположением токонесущей полоски. / - диэлектрик. 2 - резонатор. 3 - полуволновой элемент. [47]

Рассмотрим слоистую проволочную антенну. Излучатель расположен волнообразно на диэлектрической пластине, для получения поперечного излучения должны быть соблюдены размеры, приведенные на рис. 8.7. За излучателем на расстоянии Я / 4 находится отражающая пластина, которая может быть заменена резонатором, как показано на рисунке. [48]

В исходном положении два луча, происшедшие от одного первичного луча после прохождения двух ветвей интерферометров, вновь соединяются в один луч. В интерферометрах, имеющих две частично отражающие пластины и два отражающих зеркала, это условие будет выполнено в том случае, если отражающие зеркала будут совпадать с касательными к эллипсу, а центры частично отражающих пластин будут находиться в фокусах эллипса. [49]

Реализации импульсного сигнала, принятого без пространственного усреднения ( L0 - относительная протяженность отражающей пластины. [50]

Теоретические результаты анализа рассеяния коротких импульсов на шероховатой поверхности подтверждаются экспериментальными данными. На рис. 3.7 приведены фотографии с экрана анализатора импульсов. На каждом снимке изображены две реализации сигнала, соответствующего отражению импульса по форме близкого к гауссовой, от шероховатой наклонной плоскости. Снимки сделаны при различных наклонах отражающей пластины, чем объясняется различная ширина отраженных импульсов. Протяженность излучаемого импульса равна л 0 2 протяженности пластины. [51]

Поскольку интенсивность поляризованного света зависит в основном от кристаллографической ориентации кристалла на поверхности, применение поляризованного света наиболее целесообразно для исследования микроструктуры поликристаллических материалов или для определения их преимущественной ориентации. Вследствие разницы в оптической длине пути света лучи образуют на таком клине полосы взаимного усиления и гашения в соответствии с уравнением вида пХ 2 хй cos 6, где га - порядок интерференции; ц, - показатель преломления воздуха; d - толщина клина. В интерференционном микроскопе одной из сторон клина служит отражающая пластина ( эталонное зеркало), второй стороной - шлиф. Световые лучи от отражающей пластины и шлифа налагаются друг на друга и интерферируют, образуя интерференционные полосы, являющиеся геометрическим местом точек постоянной толщины, причем ширина темных и светлых полос примерно одинакова. Оптическая система микроскопа позволяет наложить эти полосы на изображение шлифа. Зная длину волны, измеряют детали микроструктуры. Высоту неровностей и др. вычисляют с помощью спец. [52]

Пластинчатый теплообменник. [53]

Теплоноситель поступает в кожух через входной патрубок и выходит через выходной. Чаще всего патрубки изготавливаются из стандартных труб, которые привариваются к кожуху. Там, где требуются малые потери давления, равномерное распределение теплоносителя или защита от коррозии, применяются специальные конструкции. В тех случаях, когда в межтрубное пространство подается двухфазный поток или насыщенный пар, внутри кожуха за входным патрубком могут быть установлены отражающие пластины, имеющие несколько большие размеры, чем сечение патрубка. [54]

Кроме уже описанных, имеются и другие методики приготовления твердых образцов. По методике нарушенного полного внутреннего отражения ( НПВО) легко получают характерные спектры твердых пластмасс, эластомеров, тканей, клеев, порошков, пенопластов и неорганических соединений. Более правильно явление описывается термином внутреннее отражение. Термины многократное внутреннее отражение ( МВО) и нарушенное многократное внутреннее отражение ( НМВО) только недавно вошли в словарь спектроскописта. Суть метода заключается в следующем. Вырезают твердые образцы определенного размера и закрепляют их на внутренне отражающей пластине. Падающее инфракрасное излучение отражается от образца, проникнув в глубь его на несколько микронов. Ход лучей зависит от угла падения, показателя преломления и коэффициента поглощения образца. Детальное описание спектроскопии внутреннего отражения дано в гл. [56]

Страницы: 1 2 3 4