Cтраница 3
Явление интерференции света используется в ряде весьма точных измерительных приборов, получивших название интерферометров. На рис. 31.13 изображена принципиальная схема интерферометра Жамена, применяемого для точных измерений показателей преломления газов и их зависимости от температуры, давления и влажности. Две совершенно одинаковые толстые плоскопараллельные стеклянные пластины А и В установлены почти параллельно друг другу. Пройдя сквозь две совершенно одинаковые закрытые стеклянные кюветы К и К2, эти волны после отражения от второй пластины В собираются линзой Л и интерферируют. Интерференционные полосы равного наклона рассматриваются с помощью окуляра, который на рисунке не показан. [31]
Явление интерференции света используется в ряде весьма точных измерительных приборов, получивших название интерферометров. На рис. 5.9 изображена принципиальная схема интерферометра Жамена, применяемого для точных измерений показателей преломления газов и их зависимости от температуры, давления и влажности. Две совершенно одинаковые толстые плоскопараллельные стеклянные пластины А к В установлены почти параллельно друг другу. На рис. 5.9 показан только один падающий луч. [32]
Явление интерференции света используется в ряде весьма точных измерительных приборов, получивших название интерферометров. На рис. 5.9 изображена принципиальная схема интерферометра Жамена, применяемого для точных измерений показателей преломления газов и их зависимости от температуры, давления и влажности. Две совершенно одинаковые толстые плоскопараллельные стеклянные пластины А и В установлены почти параллельно друг другу. На рис. 5.9 показан только один падающий луч. [33]
Явление интерференции света используется в ряде весьма точных измерительных приборов, получивших название интерферометров. На рис, 5.9 изображена принципиальная схема интерферометра Жамена, применяемого для точных измерений показателей преломления газов и их зависимости от температуры, давления и влажности. Две совершенно одинаковые толстые плоскопараллельные стеклянные пластины А и В установлены почти параллельно друг другу. На рис. 5.9 показан только один падающий луч. [34]
Поверхности трения колец должны быть обработаны до шероховатости, равной 0 06 - 0 1 мкм. Неплоскостность рабочей поверхности элемента пары трения должна быть не более 0 001 мкм, на этой поверхности недопустимы риски, раковины, трещины, смолы. Плоскостность рабочей поверхности рекомендуется контролировать плоскопараллельными стеклянными пластинами по интерференции света. [35]
Качание кронштейна устраняется при помощи трех винтов 41 ( фиг. Кронштейн должен перемещаться по колонке плавно, без заеданий; зажим должен обеспечивать надежное крепление кронштейна на колонке в заданном положении. Перпендикулярность оптической оси микроскопа плоскости стола проверяют описанными выше методами ( см. фиг. Колонку устанавливают на ноль и совмещают изображение креста образцовой штриховой пластины и окулярной сетки; затем, установив на стол микроскопа плоскопараллельную стеклянную пластину, фокусируют изображение креста штриховой пластины только подъемом кронштейна и повторяют проверку, фокусируя крест пластины только вращением кольца 18 ( фиг. [36]
Если на плоскопараллельную тленку падает параллельный пучок лучей ( см. рис. 14 - 3), то в результате интерференции в отраженном и проходящем свете на экране получаются чередующиеся темные и светлые полосы в случае монохроматического вета и цветные полосы в случае белого света. Рассмотрим интерференцию монохроматического света при падении на пленку или пластинку расходящегося пучка лучей, например при падении сферической волны. В этом случае результаты интерференции отраженного ( и проходящего) света в различных точках пластинки зависят только от углов падения i лучей. Интерференционная картина имеет вид криволинейных чередующихся темных и светлых полос. Каждой из этих полос соответствует определенное значение угла I. Поэтому они называются полосами равного наклона. При нарушении плоскопарал-лельности пленки или пластинки форма полос равного наклона искажается. Этим пользуются при проверке качества шлифовки плоскопараллельных стеклянных пластин, причем обнаруживается отклонение от плоскопараллельности, равное 0 01 мкм. [37]