Cтраница 1
Атомный эмиссионный спектральный анализ особенно широко применяется для открытия и определения металлов в растворах или в твердых образцах. [1]
Весьма удобен для обнаружения элементов атомный эмиссионный спектральный анализ. Принцип метода основан на том, что атомам каждого элемента присущ определенный и характерный для данного элемента набор энергетических уровней внешних электронов. При температуре электрической дуги или искры электронам сообщается энергия и они переходят на более высокие энергетические уровни. [2]
Измерения интенсивности спектральных линий в атомном эмиссионном спектральном анализе могут осуществляться визуальным, фотографическим и фотоэлектрическим способами. Однако первые два способа имеют скорее историческое значение. [3]
Отличительным достоинством метода абсорбции по сравнению с методами атомного эмиссионного спектрального анализа является то, что в методе абсорбции практически отсутствуют помехи, связанные с наложением линий. Количество линий поглощения, исходящих с нижнего уровня ( а только такие практически наблюдаются в пламени), так мало по сравнению с количеством линий испускания, что опасаться помех почти не приходится. [4]
Основное внимание здесь уделено анализу по оптическим спектрам испускания атомов, который обычно называют атомным эмиссионным спектральным анализом или, просто, спектральным анализом. Метод анализа по оптическим спектрам поглощения атомов называют методом атомно-абсорбционного анализа, анализ по рентгеновским спектрам-рентгено-спектральным анализом. [5]
Основное внимание здесь уделено анализу по оптическим спектрам испускания атомов, который обычно называют атомным эмиссионным спектральным анализом или, просто, спектральным анализом. Метод анализа по оптическим спектрам поглощения атомов называют методом атомно-абсорбционного анализа, анализ по рентгеновским спектрам-рентгено-спектральным анализом. Эмиссионный спектральный анализ основан на характеристичности оптических спектров испускания свободных атомов всех элементов. Атомно-абсорбционный анализ основан на характеристичности оптических спектров поглощения свободных атомов, а рентгено-спектрапьный-на характеристичности рентгеновских спектров испускания и поглощения свободных или связанных в химические соединения атомов. [6]
Если погрешность метода исследования неоднородности мало зависит от особенностей компонента, например, при атомном эмиссионном спектральном анализе по оптическим или рентгеновским спектрам, то значение о может быть оценено по данным измерений заведомо однородно распределенных компонентов. Так, при исследовании СО сталей можно использовать данные, относящиеся к никелю - элементу, вводимому в шихту и образующему с основой сплава ( железом) систему с неограниченной растворимостью и не образующему соединений в виде структурно обособленных фаз с прочими компонентами сплава. [7]
Когда для контроля состава и толщины покрытий применяют разрушающие методы анализа, основанные на градуировании ( например, атомный эмиссионный спектральный анализ), необходимы наборы СО для решения наиболее массовых задач такого рода - контроля состава и толщины хромовых, никелевых, цинковых, оловянных и других покрытий. [8]
Подобное различие должно учитываться и применительно к функциональности по методам: и узкоспециализированный и групповой образцы ( комплекты) могут быть монофункциональными или же полифункциональными. Пример монофункциональных по методу - групповые комплекты металлических монолитных СО, предназначенные для атомного эмиссионного спектрального анализа только в оптической области, или только в рентгеновской области спектра. [9]
Шполь-ский [10] писал, что спектральный анализ при помощи квазилинейчатых эмиссионных спектров позволяет обнаружить и идентифицировать индивидуальные органические соединения с той же добросовестностью, быстротой и чувствительностью, с какой идентифицируются атомы элементов при помощи атомного эмиссионного спектрального анализа. [10]
От рассматриваемых ситуаций следует отличать сходные с ними, но не основанные на применении образцов-имитаторов. Таков контроль стабильности градуировочных характеристик с помощью, например, СО, аттестованного лишь по однородности [105, 106]; контроль стабильности условий анализа ( после достижения достаточной правильности результатов) с помощью шифрованных проб или СО-индикаторов; учет смещения градуировочной характеристики при переходе от некоторого опорного комплекта к образцу, типичному для некоторой группы проб ( регистрацию аналитических сигналов от образцов, входящих в опорный комплект, и типичного образца при этом осуществляют практически одновременно) при использовании метода параллельного графика в атомном эмиссионном спектральном анализе и аналогичные. [11]
В спектральном анализе по атомным спектрам в течение многих лет применялся только один из трех возможных процессов, могущих происходить в атомных системах, а именно спонтанное излучение. Атомный абсорбционный спектральный анализ основан на явлении совершенно иного характера - вынужденном процессе. Поэтому атомный эмиссионный спектральный анализ и атомный абсорбционный спектральный анализ связаны не с противоположными физическими процессами, как это часто представляют в работах, посвященных аналитическим аспектам спектроскопии [17], а с процессами совершенно различными, хотя и взаимосвязанными. [12]
Для выбора гранулометрического состава СО в виде твердого диспергированного материала обычно приходится принимать во внимание уже несколько факторов. Значение этого показателя зависит от ряда обстоятельств. Так, относительно большие размеры частиц могут осложнить взятие навесок материала СО. Это может увеличить продолжительность переведения вещества образца в раствор при использовании его для контроля правильности результатов анализа твердых веществ сложного состава. Другим важным показателем является распределение частиц по их крупности ( по фракциям): верхний предел крупности может быть приемлемым, но наличие сравнительно большой доли мелких фракций может привести к неоднородности материала СО. С другой стороны, удаление ( отсеивание) таких фракций иногда может привести к неадекватности СО и проб. Так, известно, что характеристики поступления вещества в зону электрического разряда при атомном эмиссионном спектральном анализе минерального сырья, шлаков и аналогичных веществ, а следовательно и правильность результатов, зависят не только от среднего размера частиц, но и от их распределения по крупности. [13]