Спектрографическая пластинка - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Идиот - это член большого и могущественного племени, влияние которого на человечество во все времена было подавляющим и руководящим. Законы Мерфи (еще...)

Спектрографическая пластинка

Cтраница 1


1 Кривые спектральной чувствительности некоторых фотоэмульсий фотопластинок. [1]

Спектрографические пластинки отличаются наибольшей однородностью фотослоя.  [2]

Спектры регистрируют спектрографом ДФС-8 ( решетка-1200 штрихов на 1 мм) на спектрографических пластинках типа ЭС.  [3]

Продолжительность съемки в соответствии с характером кривых испарения примесей, составляет 50 сек. Спектры фотографируются на спектрографические пластинки типа I и III, одновременно закладываемые в кассету.  [4]

Стандарты и образцы ( по 3 навески каждого) сжигают в дуге постоянного тока напряжением 220 в, силой тока 15 а, с. Регистрация спектров производится на контрастные спектрографические пластинки, тип II, чувствительностью 16 ед.  [5]

Для выяснения распределения в сплавах богатых плутонием фаз и различения промежуточных фаз по содержанию в них плутония полезно применять автомнкрорадисграфпю. Было найдено, что подходящую эмульсию имеют спектрографические пластинки кодак типа VO. Необходимо, чтобы при экспозиции образец соприкасался с эмульсией, которая всегда загрязняется. Поэтому при проявлении пластинок следует учитывать, что к их поверхности может прилипнуть значительное количество а-активного материала. После проявления пластинки можно легко спроектировать изображение пртт заданном увеличении для получения позитива на ортохроматическую пленку, а загрязненную пластинку можно уничтожить. Контактные отпечатки с позитивной пленки дают истинную репродукцию авторадио-микрографин при подходящем увеличении.  [6]

С другой стороны, имеющиеся данные показывают, что скорости реакций углерод - кислород и углерод - двуокись углерода заметно различаются. Гульбранзен и Андрю [78] нашли, что скорости реакции спектрографических пластинок графита составляют 2 5 10 - 8 г / ( см2 - сек) при 575 и 0 1 атм кислорода и 1 1 10 - 9 г. ( см2 сек) при 900 и 0 1 атм двуокиси углерода.  [7]

Для сравнения в последней графе приведены данные таблиц Фишера и Иэйтс. Метод используется также для количественно измеренного признака, если точность отдельных значений более сомнительна, чем их порядок ( например, при сложном химическом анализе, определении почернения спектрографической пластинки) при отсутствии эталонов или, если не выбрана характеристика признака, например при определении удлинения в процентах, в логарифмах от величины удлинения или в логарифмах от величины ( 1 - f - удлинение) при длительном опыте.  [8]

Для анализа используется кварцевый спектрограф средней дисперсии, имеющий ширину щели 0 02 мм, освещаемой г помощью трехлинзовой системы конденсоров. В качестве подставного электрода применяется графитовый стержень диаметром 6 мм, заточенный на усеченный конус с площадкой диаметром 1 5 мм. Продолжительность предварительного обжига 20 сек, съемки 20 сек, спектры фотографируют на спектрографические пластинки типа I, фотообработка и фотометрирование стандартные. Анализ выполняют методом трех эталонов.  [9]

Анализируемым образцом служит проба, отобранная и подготовленная в соответствии с указаниями, шриведеными в разделе об определении хрома. Подставным электродом служит магниевый или алюминиевый пруток, заточенный на усеченный конус с углом при вершине-30; принятый диаметр площадки на вершине ( - 1 мм) следует выдерживать для каждого электрода по возможности постоянным. Продолжительность съемки 10 - 30 сек; она выполняется после предварительного обьгскри-вания в течение 10 сек. Применяют спектрографические пластинки типа III, можно использовать и пластинки типа I, сенсибилизированные погружением на 5 сек в 5 % - ный спиртовой раствор сал ицилата натрия.  [10]

Затем заполненный электрод, который служит катодом, помещают в угледержатель. Верхний электрод - анод, представляет собой угольный стержень, заточенный на конус, длиной 4 мм, диаметром 6 мм. С помощью шаблона устанавливают межэлектродный промежуток, равный 3 мм. Стандарты и образцы ( по три навески каждого) сжигают в дуге постоянного тока при напряжении 220 в и силе тока 15 а, с экспозицией 3 мин. Регистрация спектров производится на контрастные спектрографические пластинки, тип II ( чувствительность 16 ед. Фотопластинки проявляют в метолгидрохиноновом проявителе в течение 5 мин. Затем на микрофотометре МФ-2 фотометрируют следующие пары аналитических линий: Ga 2943 64 А и Sn 3034 1 А или Ga 2943 64 А и In 2932, 62 А.  [11]

Раствор концентрата массой около 0 2 г помещают в платиновый тигель и упаривают досуха под инфракрасной лампой. Сухой остаток 1 5 ч прокаливают в муфельной печи при 950 С. Затем концентрат смешивают с угольным порошком ( при массовом отношении 1: 1) и растирают в ступке из органического стекла. Навески ( 0 025 г) полученных смесей и приготовленных одновременно с ними градуировочных образцов помещают в каналы нижних угольных электродов ( глубина 3 мм, диаметр 4 мм) и 60 с испаряют в дуге переменного тока при силе тока 16 А. Верхние электроды затачивают на конус. Спектры регистрируют спектрографом ДФС-8 ( решетка-1200 штрихов на 1 мм) на спектрографических пластинках типа I. Как видно из данных табл. 28, концентрирование обеспечило снижение Сн прямой методики в х - L60 раз ( до 2 - 10 - 5 %), что вполне удовлетворяет требованиям технологии монокристаллов на основе оксидов РЗЭ.  [12]



Страницы:      1