Тонкая металлическая пластинка

Cтраница 3

Теория, построенная американским физиком Зинером, при таких предположениях экспериментально хорошо оправдывается для тонких металлических пластинок на частоте в несколько герц. [31]

Испытание основано на определении деформаций, возникающих на поверхности полимерного покрытия, нанесенного на тонкую металлическую пластинку при ударе падающего груза. Испытуемая пластинка с покрытием укладывается между наковальней и шариком бойка. Груз в направляющей трубе может быть установлен на любой высоте в пределах до 50 см. Для сбрасывания груза служит специальное приспособление. Прочность покрытия при ударе определяется максимальной высотой ( в ем), с которой падает груз в 1 кгс, не вызывая механического разрушения покрытия: отслоения, появления трещин, сколов и деформации в месте удара. Внешний вид покрытия после удара может также характеризовать адгезию полимерного покрытия. [32]

В 1920 г. английский ученый Чэдвик, рассеивая а - и Р - ЧЭСТИЦЫ тонкими металлическими пластинками, измеряя кривизну туманных следов ( трэков) этих частиц ( заснятых на фотопленку при помощи камеры Вильсона), подсчитывая число туманных капелек на 1 см пути пробега их, вычислил массу и скорость движения частиц. Так как углы отклонения также были измерены, равно как и числа отклонявшихся на разные углы частиц, то можно было по формуле Резерфорда ( см. гл. [33]

Испытуемый пигмент насыпают на стеклянную пластинку или на лист белой бумаги и разравнивают шпателем или тонкой металлической пластинкой. При грубом помоле крупные частицы хрустят или скрипят, оставляя след на слое пигмента. При тонком помоле пигмент распределяется ровным однородным слоем. [34]

Оно может быть получено путем ограничения прохода света сквозь пластинку кристалла при помощи отверстий в тонких металлических пластинках, накладываемых на его поверхности, причем отверстия размещаются так, чтобы линия, соединяющая их, шла вдоль направления OR, которое называется осевым лучом кристалла. Одно из отверстий освещается затем сходящимся пучком обыкновенного света, а свет, выходящий из другого отверстия, образует уже описанный расходящийся конус. Коническое преломление было предсказано В. Гамильтоном из математических свойств волновой поверхности Френеля и по его предложению было проверено на опыте Ллойдом. [37]

Ядерная модель атома явилась результатом опытов Резерфорда, изучавшего прохождение а-частиц ( VI.4.4. Г) через тонкие металлические пластинки золота и платины. [38]

Путь электронного пучка через линзы объектива. показана угловая апертура 2а, брэгговский угол 20 и инверсия изображения относительно дифракционной картины и образца. [39]

Угловую диафрагму определяют физически с помощью круглых отверстий, диаметром 20 - 50 мкм, в тонкой металлической пластинке. Эту диафрагму можно убрать совсем, с тем чтобы увеличить всю картину дифракции последующими линзами; ее можно вставить и выровнять относительно первичного пучка и оптической оси для работы в режиме свет-лопольной микроскопии ( см. рис. 6, а и 12); она может выделить дифрагированный пучок в задней фокальной плоскости для работы в режиме темнополыюй микроскопии. В этом случае изображение создается только теми участками образца, которые дают вклад в отдельный дифрагированный луч или дебаевское кольцо. Чтобы получить высокое разрешение в темном поле, первичный пучок следует отклонить на угол 20, так чтоГы дифрагированный луч проходил вдоль оптической оси линз объектива. [40]

Изменение веса монокристалла алмаза и толщины наращенной алмазной пленки при импульсной кристаллизации из газовой фазы. [41]

Авторами совместно с В. П. Варниным удалось наращивать алмаз с помощью импульсов пересыщения, создаваемых нагреваемой электрическим током тонкой металлической пластинкой, которая располагалась в непосредственной близости от кристалла. Однако значительная тепловая инерционность такой системы является препятствием для осуществления импульсной кристаллизации. [42]

Приемник интегрального излучения должен быть практически чувствительным ко всем длинам волн измеряемого участка спектра и выполняется обычно в форме тонкой металлической пластинки, покрытой сажей. Температура пластинки устанавливается в результате теплового равновесия между подводимым потоком лучистой энергии и теплоотводом от пластинки в окружающую срепу. [43]

На основании прибора укреплена стойка /, к которой подвешен на плоской пружине 2 подвижной электрод 3, представляющий собой тонкую металлическую пластинку с размерами примерно 25 X 90 мм. Электрод 5 изолирован от электрода 3, а электроды 3 и 4 электрически соединены между собой. Нить 6, свободно проходящая через отверстие в электроде 4, соединяет подвижной электрод 3 с поводком на оси стрелки поибора, и таким путем механическая сила взаимодействия заряженных электродов преобразуется во вращающий момент, заставляющий перемещаться стрелку прибора; противодействующий момент создается подвесом или пружинкой, не показанными на рисунке. [44]

Конденсатор ( рис. 111.26, г) можно представить как систему последовательно соединенных плоских конденсаторов; так как введение или удаление бесконечно тонких металлических пластинок, параллельных обкладкам, не изменяет емкости конденсатора, то эти пластинки можно расположить вдоль границ между диэлектриками. [45]

Страницы: 1 2 3 4