Данная пластинка
Cтраница 1
Данная пластинка не может считаться вполне лишенной последействия, но и здесь оно имеет электрическую природу. [1]
Разбиваем данную пластинку прямыми, параллельными одной из сторон, на бесконечно тонкие полоски. Центр тяжести каждой полоски находится в ее середине и лежит, таким образом, на медиане, а следовательно, и центр тяжести всей треугольной пластинки лежит на этой медиане. Так как это рассуждение применимо к любой стороне, то центр тяжести треугольника находится в точке пересечения его медиан. [2]
Коэффициент относительной стойкости представляет отношение стойкости данной пластинки к стойкости пластинки, равной 30 мин, при износе резца ha - 0 8 мм. [3]
Следует добавить, что такой метод съемки на данную пластинку всех чистых веществ, компоненты которых определяются в данной смеси, связан с большой затратой времени и требует тщательного наблюдения за постоянством режима лампы. Тем не менее, в некоторых наиболее ответственных случаях, когда определяется содержание каких-либо компонентов, чистые образцы которых имеются у исследователя, такой метод может быть рекомендован. [4]
Предварительно составленные таблицы теоретических значений величин Дсот применительно к данным пластинкам для различных расстояний между инструментом и отвесами позволяют быстро осуществлять надежный полевой контроль правильности проектирования точек отвесами и угловых измерений. [5]
На этом основании прогибы и напряжения, произведенные в данной пластинке в точке приложения О сосредоточенной силы, могут быть вычислены с помощью формул, выведенных для бесконечно длинной пластинки. [6]
 |
Признак параллельности плоскостей общего положения. [7] |
На рис. 27 показано также, как определить видимые и невидимые участки данных пластинок с помощью конкурирующих точек ( см. стр. [8]
В случае смещения точки этого эталона относительно ее положения на постоянном графике, для данной пластинки строится новый градуировочный график, параллельный постоянному. [9]
При работе этим методом необходимо, кроме разности почернений, еще знать фактор контрастности f данной пластинки, который определяется из наклона прямолинейного участка характеристической кривой фотопластинки. [10]
При работе этим методом необходимо, кроме разности почернений, еще знать фактор контрастности f данной пластинки, который определяется из наклона прямолинейного участка характеристической кривой фотопластинки. [11]
Размеры этого треугольника будут зависеть от критической глубины, с которой данная линия излучается из материала данной пластинки. [12]
С - концентрация примесного элемента в анализируемом веществе, %; у и А - константы для данной пластинки), строят градуировочный график. [13]
Найти число ядерных реакций 113Cd ( n, у) 114Сс1, которое протекает за 1 сек в данной пластинке. [14]
 |
Построение характеристической кривой по трем спектральным линиям. [15] |
Страницы: 1 2 3 4