Пленки-подложка - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Если жена неожиданно дарит вам галстук - значит, новая норковая шубка ей уже разонравилась. Законы Мерфи (еще...)

Пленки-подложка

Cтраница 2


В качестве материалов, из которых готовят пленки-подложки, наиболее широко применяют коллодий, формвар ( поливинил-формальдегид), углерод, кварц и некоторые металлы. В данном случае коллодий готовят, растворяя нитрат целлюлозы не в спирто-эфирной смеси, как обычно, а в чистом амилацетате.  [16]

Такое нанесение препарата имеет ряд преимуществ: отсутствие пленки-подложки исключает возможность попадания посторонних частиц, мешающих расшифровке изображения; увеличивается контраст, так как наличие даже самой высококачественной пленки вследствие рассеяния ею электронов оказывает вуалирующее действие.  [17]

Облучение электронным пучком наблюдаемых в микроскопе частиц, помещенных на пленки-подложки, может привести к некоторым искажениям как формы, так и их размера. Кроме возможной ионизации, которая затрудняет наблюдения, хотя и не вызывает заметных искажений объекта, происходит нагревание образца. Температура образца, зависящая от ряда факторов ( толщины образца, скорости электронов, условий охлаждения и пр.  [18]

Уменьшение коагуляции частиц может быть достигнуто и правильным выбором материала пленки-подложки. Как показали специальные исследования [33; 34], в том случае, если пленка-подложка обладает той же полярностью, что и взвешенные частицы, то последние, отталкиваясь от пленки, собираются в крупные скопления. Поэтому необходимо сообщить пленке другую полярность, что может быть сделано, например, в случае применения формва-ровой пленки напылением на нее очень тонкого слоя бериллия. Благодаря противоположной полярности пленки и исследуемых частиц они притягиваются пленкой и во время сушки остаются так же хорошо распределенными на ней, как и в самой суспензии. Наиболее сложным в этом методе препарирования порошков является получение хорошо диспергированной суспензии, что особенно трудно при изучении порошков с большим удельным весом.  [19]

20 Реплика с извлечением ( Л. М. Утевский. [20]

Это связано с тем, что материал реплики, выполняющей здесь функции пленки-подложки, не имеет кристаллической структуры и мало рассеивает электроны.  [21]

Некоторое улучшение контраста изображения при прямых методах исследования может быть достигнуто помещением объекта непосредственно на сетку без пленки-подложки, которая всегда снижает контраст, оказывая вуалирующее действие. Для этого к сетке крепят нити из волокнистых материалов ( асбеста, окислов металлов), на которые наносят распыленный исследуемый материал. Для удержания материала без пленки-подложки могут быть использованы также стеклянные нити, о чем упоминалось в связи с описанием различных методов препарирования порошков. Однако, естественно, такой метод может иметь лишь весьма ограниченное применение.  [22]

23 Схема устройства растрового электронного микроскопа. 1 - электронная пушка. 2 - конденсор. 3 - отклоняющая система. 4 - конечная линза с корректором астигматизма. 5 - объектный столик. 6 - образец. 7 - вакуумная система. 8 - генератор разверток. 9 - блок управления увеличением. 10 -селектор сигналов ( для выбора регистрируемого вторичного излучения. 11-ндеоусилитель. 12 13 - ЭЛТ и ее отклоняющая система. ВИрВИз - потоки вторичных излучений. Ц - С, - электрет, сигналы. Д Д, - детекторы. ЭЛ, ЭЛ2 - электронные лучи. X, У - направления сканирования ( строчная и кадровая развертки. [23]

Для изучения формы и размеров микрочастиц ( микрокристаллы, аэрозоли, вирусы, макромолекулы) их наносят в виде суспензий либо аэрозолей на пленки-подложки из формвара ( поли-винилформаль) или аморфного С, проницаемые для электронного луча, и контрастируют методом отгенения или негативного контрастирования.  [24]

Однако большинство дымов, так же как и окислов металлов, получаемых при сжигании металлов, например, в пламени вольтовой дуги, электродами которой служат стержни из исследуемого металла, могут быть нанесены на диафрагму или объектную сеточку непосредственно, без поддерживающей пленки-подложки.  [25]

Тонкие углеродные пленки можно также приготовить на сетках, на которые предварительно нанесена коллодиевая или формва-ровая пленка. На пленки-подложки напыляют уголь, а затем полимер удаляют, растворяя его в амилацетате или в диоксане.  [26]

Высокодисперсные порошки, осажденные на пленку-подложку после специальной операции диспергирования, разрушающей агломераты частиц или предупреждающей их возникновение. В качестве пленки-подложки используют тонкие пленки С, полученные конденсацией из пара, или коллодиевые пленки, полученные при растекании капли раствора ( 1 - 2 %) коллодия в амилацетате по поверхности воды.  [27]

Сетку с препаратом вводят через шлюзовое устройство в камеру объектов колонны микроскопа. Происходящая при этом карбонизация поверхности полимерной пленки-подложки значительно повышает ее устойчивость к действию электронного пучка большей интенсивности. Затем увеличивают интенсивность пучка и просматривают весь препарат при небольшом увеличении ( 5000 - 10000 раз), выбирая участок, наиболее подходящий для съемки. После этого устанавливают необходимое рабочее увеличение, наводят на резкость и фотографируют. Данную операцию повторяют 2 - 4 раза, исследуя разные участки пленки. При этом общее число отснятых частиц должно быть не менее тысячи. Операции проявления фотопластинок и получения фотоотпечатков проводят под руководством лаборанта.  [28]

Для исследования частиц аэрозолей обычно бывает достаточно подержать сеточку без пленки в атмосфере аэрозоля. Осаждение частиц непосредственно на сеточке увеличивает контрастность изображения из-за отсутствия пленки-подложки.  [29]

Для исследования частиц аэрозолей обычно бывает достаточно подержать сеточку без пленки в атмосфере аэрозоля. Осаждение частиц непосредственно на сеточке увеличивает контрастность изображения из-за отсутствия пленки-подложки.  [30]



Страницы:      1    2    3    4