Cтраница 2
МДС и положения плоскости предметов относительно фокусирующего поля. В частности, сферическая и хроматическая аберрации уменьшаются, если МДС увеличивать и эту плоскость приближать к центру линзы, где индукция поля максимальна. Поэтому в целях уменьшения аберраций в электронной оптике чаще используют линзы с большой МДС, в к-рых предмет и изображение расположены в поле линзы. [16]
Пусть, например, в плоскости предметов, ограниченной площадью 50 ( рис. 1.9), имеется единственная светящаяся точка, которая с равной вероятностью может располагаться в любом месте плоскости. Вся площадь 50 разбита на равновеликие элементарные площадки AS. Необходимо определить, какое максимальное количество информации может быть получено в результате того, что будет определена элементарная площадка, в которой располагается светящаяся точка при самом рациональном способе поиска этой площадки. [17]
Схема окуляра Рамс - [ IMAGE ] Схема окуляра Гюй-дена генса. [18] |
Высотой объектива называется расстояние от плоскости предметов до опорной плоскости объектива. [19]
Представим себе, что в плоскости предметов объектива нахо-дится штрих. На пути пучка лучей после объектива установлен оптический клин, который отклонит пучок лучей на некоторый угол от оси объектива в сторону основания клина. [20]
Под изображением понимается такое отображение плоскости предмета на плоскость - 1 изображения, когда все лучи, исходящие от точки предмета, сходятся в одной точке плоскости 4 изображения и все точки отображаются с одинаковым увеличением. [21]
Для ограничения поля зрения ( в плоскости предмета) помимо апертурной диафрагмы, применяется диафрагма поля зрения, роль которой может также играть оправа одной из линз системы. Наиболее резкое диафрагмирование-поля зрения осуществляется тогда, когда плоскости люка и предмета совпадают. [22]
На одной прямой так, чтобы плоскости предмета и экрана были перпендикулярны к этой прямой. [23]
На столик микроскопа ( или в плоскости предмета) устанавливают шкалу, например с ценой деления 0 01 мм. Эта шкала выполняет роль объект-микрометра. [24]
Таким образом, чертеж - изображение на плоскости предмета ( или его части), точно и полно передающее его ферму, а также содержащее все необходимые данные для его изготовления и контроля. [25]
Диафрагма поля зрения ограничивает величину предмета или в плоскости предметов или в сопряженной плоскости изображений. [26]
Случай а ( / 0) - перемещаются плоскость предмета ПП и орой компонент с передаточным отношением i2 / i0 относительно пе-мещения предметной плоскости. [27]
L ( рис, 1), OOi - плоскость предмета, 0 О - плоскость изображений, РР1 и Р р [ - соответственно плоскости входного и выходного зрачков. [28]
Предел разрешения микроскопа определяется дифракционными явлениями, возникающими в плоскости предметов, микроструктура которых действует на световые волны подобно дифракционной решетке. [29]
Предел разрешения микроскопа определяется дифракционными явлениями, возникающими в плоскости предмета, микроструктура которого действует на световые волны подобно дифракционной решетке. [30]