Количественный эмиссионный анализ
Cтраница 1
 |
Графическое изображение. [1] |
Количественный эмиссионный анализ осложняется тем, что интенсивность спектральных линий в значительной степени зависит от условий получения спектра, учесть которые в большинстве случаев не удается. [2]
Задачи количественного эмиссионного анализа включают измерение относительных интенсивностей спектральных линий обнаруженных элементов, что позволяет оценить их концентрацию, так как существует прямолинейная зависимость между интенсивностью спектральных линий определяемого элемента и содержанием его в исследуемой пробе. [3]
 |
Принципиальная схема спектрографа ИСП-28. [4] |
Для количественного эмиссионного анализа широко используют спектрографы с регистрацией спектра на фотопластинке. [5]
Задачи количественного эмиссионного анализа включают измерение относительных интенсивностей спектральных линий обнаруженных элементов, что позволяет оценить их концентрацию, так как существует прямолинейная зависимость между интенсивностью спектральных линий определяемого элемента и содержанием его в исследуемой пробе. [6]
При количественном эмиссионном анализе сравнивают интенсивность линии определяемого элемента с интенсивностью линии элемента сравнения. В качестве элементов сравнения в случае определения тория используют стронций или уран. [7]
При количественном эмиссионном анализе ширину щели выбирают так, чтобы потеря разрешения была небольшой и в то же время относительная интенсивность линий мало зависела от ширины щели. Это достигается при щели в 2 - 3 раза более широкой, чем нормальная. [8]
При фотографической регистрации излучения методы количественного эмиссионного анализа в рентгеновской области спектра имеют некоторое своеобразие. В ряде пунктов они существенно отличаются от близких к ним методов, используемых, например, в оптическом спектральном анализе. Указанные отличия в большой мере объясняются особенностями законов взаимодействия рентгеновского излучения с фотоэмульсией. Эти вопросы рассматриваются в первой главе книги и в дальнейшем используются для систематического изложения принципиальных основ методов, применяемых в рентгеновской спектроскопии при фотографических измерениях интенсивности спектральных линий, а также для обоснования методики проведения анализа. В заключительной главе описанные в книге приемы рентгеноспектрального анализа иллюстрируются примерами анализа объектов, при изучении которых рентгеноспектральный метод используется наиболее часто и с наибольшим успехом. [9]
Спектрографы - приборы с фотографической регистрацией спектра, предназначенные для качественного и количественного эмиссионного анализа самых разнообразных проб: металлов и их сплавов, порошков и растворов, смеси газов. Спектрографы предназначены для регистрации спектров в видимой, ультрафиолетовой и ближней инфракрасной областях. Для длинноволновой части ИК нет чувствительных фотоматериалов, что и определяет невозможность ее регистрации. Для регистрации спектров в дальнем УФ используются вакуумные спектрографы с отражательной оптикой и специальными фотографическими пластинками. Но в аналитической практике применение этих спектрографов ограничено. [10]
Фотографический метод регистрации спектра и измерения относительной интенсивности спектральных линий является даже в настоящее время основным при качественном и количественном эмиссионном анализе. [11]
Фотографический метод регистрации спектра и измерения относительной интенсивности спектральных линий является даже в настоящее время основным при качественном и количественном эмиссионном анализе. [12]
Измерение относительных интенсивностей спектральных линий обнаруженных элементов позволяет оценить их количественное содержание. Количественный эмиссионный анализ основан на прямолинейной зависимости, существующей между интенсивностью спектральных линий определяемого элемента и содержанием его в исследуемой пробе. [13]
Определение состава вещества производится по присутствию в регистрируемом спектре характерных для каждого элемента аналитических линий. Количественный эмиссионный анализ базируется на измерении интенсивности аналитических линий, которая пропорциональна концентрации определяемого элемента в пробе. [14]
 |
Средняя спектральная чувствительность глаза. [15] |
Страницы: 1 2