Плотность - почернение - пленка
Cтраница 1
Плотность почернения пленки измеряется в единицах оптической плотности. Оптическая плотность рентгеновских пленок измеряется специальными приборами - денситометрами. [1]
Плотность почернения пленки при одинаковой экспозиционной дозе зависит от энергии ионизирующего излучения. Эта зависимость характеризуется спектральной чувствительностью, которая обычно выражается величиной Q-1 / X, обратной величине экспозиционной дозы, необходимой для получения одинаковой плотности почернения. Радиографическая пленка обладает наибольшей спектральной чувствительностью при энергии ионизирующего излучения 40 - 50 кэВ, а при энергиях свыше 250 - 300 кэВ чувствительность почти постоянна. [2]
Зависимость плотности почернения пленки от экспозиции имеет сугубо нелинейный характер. [3]
 |
Контрольная кривая почернения. [4] |
По найденным значениям плотностей почернения S рабочих пленок при помощи построенной для данной серии пленок контрольной кривой почернения определяются дозы излучения, полученные работниками. [5]
 |
Зависимость контрастности от плотности почернения радиографических пленок. [6] |
Это определяется тем, что плотность почернения D пленок пропорциональна числу проявленных зерен галоидной соли серебра, а экспозиционная доза X зависит от числа квантов, приходящих на пленку. Эффективность регистрации радиографической пленки определяется ее способностью получать различные плотности почернения при проявлении после облучения ионизирующим излучением различной энергии с одинаковой экспозиционной дозой. [7]
На рис. 4 - 127 изображен график зависимости плотности почернения пленки Рентген-ХХ от энергии излучения при одинаковой его дозе при зарядке кассет с флуоресцирующими экранами. [9]
Пленка Рентген - Х; фокусное расстояние f50 слг, плотность почернения пленки Dl5; свинцовая фольга толщиной по 0 05 мм с обеих сторон пленки. [11]
Следует отметить, что в реальных условиях расшифровка радиографических снимков осложняется различными локальными изменениями плотности почернения пленки, вызванными несовершенством пленки и возможными нарушениями правил ее фотообработки, а также локальными изменениями толщины контролируемого сварного шва. [12]
 |
Выявляемость дефектов в зависимости от их.| График выявляемое трещин просвечиванием. [13] |
В практике очень часто наблюдается, что ширина раскрытия дефекта Ал 3 ( рис. 4 - 77 в) бывает незначительной, и в этом случае дефект по длине хотя и будет большим, но на пленке проекция изображения его не будет видна из-за малой разницы в плотности почернения пленки против дефектного и недефектного участков материала. [14]
Интенсивность излучения бетатрона 22 Мэв равна 70 рн / мии м; активность источника Соео равна, i () г-экв; фокусное расстояние 100 см; пленка Agfa Texo R; усиливающие экраны свинцовые; время проявления и состав проявителя стандартные; плотность почернении - ( - снимка 1 75; для получения плотности почернения пленки 1 25 время экспозиции сокращается в 1 5 раза. [15]
Страницы: 1 2