Cтраница 1
Плотность пучка в каждом сечении зависит от координат X и У. [1]
Увеличение плотности пучка для прибора данной конструкции возможно только до определенной величины, при которой разрешающая способность прибора уменьшается незначительно. [2]
При уменьшении плотности пучка роль этих новых возбуждений становится меньше, и в конце концов мы приходим к обычной квазилинейной теории. [3]
Воспользуемся тем, что отношение плотности пучка к плотности плазмы мало. В нулевом приближении получаем, что частота собственных колебаний равна плазменной электронной частоте соре. [4]
Если вдали от центра рассеивающего поля плотность пучка одинакова по всему сечению, то такой пучок называют однородным. Рассмотрим, например, однородный пучок а-частиц, проходящий мимо ядра атома. Прицельные расстояния у частиц в пучке будут неодинаковы, поэтому углы их рассеяния тоже различны. [5]
При охлаждении стенок до нек-рой темп-ры ( зависящей впрочем от плотности пучка молекул) рассеяние реуко уменьшается, и весь пучок молекул конденсируется на стенке. Чтобы получить резко очерченный пучок молекул или атомов, стенки, на к-рые может попасть пучок, охлаждают жидким воздухом. То место, на к-рое попадает пучок, обнаруживают либо по налету вещества, либо по химич. [6]
Теперь инкремент в отличие от случая моноэнергетического пучка пропорционален отношению плотностей пучка и плазмы. При у дре уже нельзя решать уравнение с использованием параметра & / аре 1, поэтому выражение для инкремента (1.57) при достаточно малых Ду несправедливо. [7]
В то же время в плазме, плотность которой существенно превышает плотность пучка, конвекция электронов плазмы компенсирует конвективную модуляцию плотности пучка и пучково-дрейфовая неустойчивость подавляется. Кроме того, в сильном магнитном поле предельное значение тока, обусловленное возбуждением пучково-дрейфовой неустойчивости, оказывается выше предельного вакуумного тока, обусловленного действием пространственного заряда пучка. [8]
Измерения концентрации атомов цезия в пучке были сопоставлены с результатами расчета плотности пучка на основе эффузионной модели истечения паров из отверстий камеры. Данные расчета оказались на 40 % выше результатов атомно-абсорбционных измерений, что авторы объясняют приближенным характером эффузионной модели истечения газа. [9]
В этом случае электронный пучок неустойчив, и любые самые малые увеличения плотности пучка приводят к изгибу электронного слоя и увеличению начального малого возмущения. На рис. 9.30, взятом из работы [152], представлены фотографии, иллюстрирующие эволюцию этой неустойчивости в пространстве дрейфа. Электронные вихри в скрещенных полях пример ансамбля структур с переменным составом: при условиях вычислительного эксперимента, результаты которого изложены в работе [155], сначала образуется три электронных вихря, которые затем соединяются в два и, наконец, - в единственный вихрь. [10]
Дифракционная картина возникает при большом числе электронов, однако она не зависит от плотности пучка ( опыт Сушкина, Бибермана и Фабриканта), так что не является проявлением взаимодействия электронов между собой. [11]
Схема многорезонаторного клистрона. [12] |
Для уменьшения потерь, вызванных оседанием электронов на стенки пролетных трубок, и увеличения плотности пучка применяется дополнительная фокусировка продольным магнитным полем по всему пролетному пространству. [13]
За счет предварительной модуляции потока с невозмущенной скоростью год 0 2 B нем за счет инерционной группировки наблюдается модуляция по плотности пучка. [14]
В то же время в плазме, плотность которой существенно превышает плотность пучка, конвекция электронов плазмы компенсирует конвективную модуляцию плотности пучка и пучково-дрейфовая неустойчивость подавляется. Кроме того, в сильном магнитном поле предельное значение тока, обусловленное возбуждением пучково-дрейфовой неустойчивости, оказывается выше предельного вакуумного тока, обусловленного действием пространственного заряда пучка. [15]