Теоретическая плотность

Cтраница 1

Теоретическая плотность кристалла рассчитывается из размеров кристаллической решетки. Размер элементарной ячейки NaCl ( вдоль любой оси) составляет 0 5628 нм. [1]

Абсолютная теоретическая плотность таких схем определяется только комбинацией заданных параметров схемы, а не эквивалентным числом деталей, которые требуются для осуществления тех же самых функций в схемах с обычным монтажом. Вся схема заключается в монолитном блоке, который выполняет определенную функцию узла аппаратуры. [2]

Теоретическая плотность кристалла рассчитывается из размеров кристаллической ренгететг. Размер элементарной ячейки NaCl ( вдоль любой оси) составляет 0 5628 нм. [3]

Теоретическая плотность кристалла рассчитывается из размеров кристаллической решетки. Размер элементарной ячейки NaCl ( вдоль любой оси) составляет 0 5628 нм. [4]

Теоретическая плотность химического соединения YbNi5 составляет 9 63 г / см3 [1], температура Кюри отвечает 1 4 К. [5]

Физико-механические свойства графитов различных марок при комнатной температуре. [6]

Теоретическая плотность природного графита, вычисленная по данным рентгеновского анализа, исходя из размеров кристаллической ячейки, составляет 2 265 г / см3; практически определенная плотность близка к этому значению. Искусственные графиты из-за дефектов и пористости имеют более низкую плотность. [7]

Спектры времени жизни позитронов наноструктурированного порошка карбида ванадия VCo875 ( 1 и крупнокристаллического карбида ванадия VC0 875 ( 2. [8]

Достижение теоретической плотности в результате отжига означает, что металлическая подрешетка не содержала структурных вакансий и пониженная первоначальная плотность была обусловлена адсорбированными примесями воды и кислорода. Хотя после отжига при 900 К на поверхности нанокристаллитов еще остается один-два атомных слоя оксидов, разницу между теоретической и пикнометрической плотностью обнаружить не удается, так как содержание поверхностной оксидной фазы менее 0 1 масс. %, а плотности оксидов и карбида ванадия близки по величине. [9]

Авогадро вычислял теоретическую плотность сложных газообразных веществ по плотности их газообразных составляющих подобно Гей-Люссаку, но в отличие от него дал атомистическую интерпретацию этому методу. Так как Авогадро принимал молекулярный вес водорода за 1, то плотности по водороду совпадают с молекулярным весом для простых и для сложных газо образных веществ. Он использует опытную плотность газообразных сложных веществ только для проверки правильности своих теоретических методов расчета молекулярного веса. [10]

Схематизация процесса нагружения S ( t по методу полных циклов. / - 27-номера экстремумов. [11]

Полученная гистограмма и теоретическая плотность распределения / ( 5) текущего значения ординат эксплуатационных нагрузок используются для расчета вероятностей безотказной работы деталей по условию прочности, для определения ресурса и вероятности безотказной работы по циклической прочности зубчатых передач, подшипников и валов, работающих на изгиб. Для расчета валов на кручение, элементов металлоконструкций на растяжение, сжатие и изгиб необходимо провести схематизацию процесса нагружения. [12]

Как отмечено выше, теоретическая плотность железа, имеющего при комнатной температуре идеально упакованную кристаллическую решетку, может быть установлена довольно точно. Все нарушения укладки атомов в решетке ( дефекты структуры) - точечные ( вакансии и межуэельные атомы и их группировки), одномерные ( дислокации и дисклинации), двумерные ( дефекты упаковки, границы субзерен, границы зерен и границы Фаз), а также трехмерные дефекты ( например, микропоры), которые по пределению относятся к микроструктуре и не требуют анализа на атом - Ном уровне, - неизбежно приводят к дилатации и изменению плотности металла. Соответственно вклад дефекта в изменение удельного объе-ма или плотности металла может послужить оценкой значимости вклада Данного вида дефектов в изменение его субмикроструктуры. [13]

Поправка на обрыв ряда по методу Буса. [14]

Если бы при вычислении теоретической плотности по (134.V) был взят бесконечный ряд, то координаты максимумов рв ( хуг) обязательно совпали бы с координатами х у г, использованными при расчете Fe ( hkt), ибо обе формулы-и формула структурной амплитуды, определяющая Fe ( hkl), и формула электронной плотности р ( хуг) ( без обрыва) - являются вполне точными и взаимно обратными. [15]

Страницы: 1 2 3 4