Cтраница 1
Характеристическая кривая радиографической пленки. [1] |
Оптическая плотность пленки при оценке ее струк-турометрических характеристик должна составлять D ( 2 00 0 05) D0, алчна сканирования по линейной мере 100 мм, диаметр диафрагмы микроденситометра ( 100 5) мкм. [2]
Характеристическая кривая радиографической пленки. [3] |
Оптическая плотность пленки при оценке ее струк-турометрических характеристик должна составлять D ( 2 00 0 05) DQ, длина сканирования по линейной мере 100 мм, диаметр диафрагмы микроденситометра ( 100 5) мкм. [4]
Зависимость оптической плотности пленки от логарифма относительной экспозиции называется характеристической кривой данной пленки. Последняя имеет четыре характерных участка: участок недодержек ( очень малое приращение плотности с увеличением экспозиции), участок нормальных экспозиций ( приращение плотности пропорционально приросту экспозиции), участок передержек и участок соляризации, на котором увеличение экспозиции приводит к уменьшению оптической плотности снимка. Отрезок характеристической кривой, параллельный оси абсцисс, соответствует плотности вуали. [5]
Величины оптических плотностей пленки, укладывающиеся в диапазоне удовлетворительной линейной зависимости, должны быть испытаны в зависимости от условий проявления и излучения. [6]
Гебеля, оптическая плотность пленок из этих полимеров при 280 ммк возрастает пропорционально дозе при ее изменениях от 106 до 1 6 107 рад. [7]
Затем измеряют оптическую плотность пленки смолы обычным фотометрическим методом для эпоксидных групп при 10 93 - 10 98 мк и для фе-нпльных групп при 6 20 - 6 24 мк. Наилучшие результаты получаются при фотометрировании пленки не позже, чем через час после ее нанесения. [8]
Существуют денситометры для измерения оптических плотностей пленок и денситометры для измерения оптических плотностей бумаг. [9]
При печати различие в оптических плотностях пленки dD обусловит различие в количествах освещения dHr фотографической бумаги, вследствие которого на отпечатке образуется различие в оптических плотностях dDr двух соседних элементов поверхности. [10]
На рис. 113 показано изменение оптической плотности пленки при 2900 А во время облучения и хранения в темноте. Интенсивность полосы при 2900 А возрастает при хранении в темноте с начальной скоростью, большей скорости изменения интенсивности этой полосы непосредственно перед выключением света. [12]
Эта кривая относится к изменению оптической плотности пленки полимера при температуре 224 С. На этом же рисунке показана кинетика нарастания фотопроводимости в процессе термообработки при той же температуре для длины волны 450 ммк, лежащей в области поглощения образующихся участков сопряженных связей. [13]
Облучение должно выбираться так, чтобы оптическая плотность проявляемой пленки находилась в области, в которой значение g будет наибольшим. Такое значение имеется на спуске прямолинейного участка характеристической кривой. При такой плотности пленка хорошо пронизывается светом стандартных источников излучения. [14]
Зависимость прира. [15] |