Площадь - распределение
Cтраница 2
В какой степени может проявиться армирующий эффект заполнителя. Он ограничивается тем, что разрушение бетона может пройти по цементному камню ( раствору), огибая зерна заполнителя. Но и в этом случае достигается эффект упрочнения, так как увеличивается площадь распределения нагрузки. [16]
Что касается однокристальных гамма-спектрометров, которые используются в общем более широко, чем многокристальные, то их качество сильно зависит от размеров применяемого кристалла. Действительно, с ростом размеров кристалла резко возрастает пик полной энергии и уменьшается непрерывное комптоновское распределение. Для кристалла с достаточно большими размерами ( 8x8 см) непрерывное распределение составляет лишь небольшую долю всей площади распределения, форма непрерывного распределения приближается к прямоугольной, эффекты обратного рассеяния и краевой становятся пренебрежимо малыми. Это во многом упрощает и облегчает обработку спектров. [17]
 |
Блок-схема системы.| Спектральная плотность ошибки е ( t. [18] |
Спектральная плотность позволяет получить некоторые характеристики, представляющие очень большой интерес для разработчиков систем управления. Сюда входит величина среднеквадратичной ошибки, полоса, степень относительной устойчивости системы. Площадь распределения ( A - J Ф d ев), показанная штриховкой на рис. 2, равна общей средней мощности ошибки. [19]
Составив выражения для внутренних усилий также в виде рядов, можно убедиться, что их сходимость значительно хуже, чем сходимость ряда для прогиба. В самой точке приложения силы ряды для внутренних усилий оказываются расходящимися. Такой результат связан с характером сосредоточенного воздействия на тело. Как уже отмечалось, любая поверхностная нагрузка всегда имеет площадь распределения, пусть даже очень малую, но имеющую конечное значение. [20]
Особое внимание необходимо обращать на геометрические условия эксперимента. Для устранения шума за счет комптонов-ского рассеяния в изделии требуется двойное коллимирование как со стороны источника, так и со стороны детектора. Площадь сечения коллиматора должна быть в несколько десятков раз меньше площади кристалла. Получение максимальной площади под фотопиком требует аксиального расположения источника и детектора. В противном случае увеличиваются краевые эффекты в кристалле и растет площадь комптоновского распределения. [21]
Страницы: 1 2