Cтраница 3
![]() |
Схема установки с баллистическим гальванометром. [31] |
Поверхность образца, кроме одной плоскости, изолируют инертным лаком. [32]
Поверхности образца должны быть все отшлифованы и удовлетворять опеределенным допускам, в том числе по неперпендикулярности, определенной шероховатости. Следовательно, большая - часть магнитов не может быть подвергнута непосредственным измерениям. В этом случае техническая документация предусматривает контроль параметров материала на образцах-свидетелях, изготовляемых совместно с партией контролируемых магнитов. Вместе с тем совместная термическая и термомагнитная обработки не гарантируют полной идентичности микроструктуры, а следовательно, и свойства из-за различий образца-свидетеля и магнитов по массе и геометрическим размерам. С широким внедрением в технологию изготовления магнитов методов порошковой металлургии различия свойств образца-свидетеля и магнитов могут быть еще больше: образцы-свидетели изготовляют из той же партии порошка, но, как правило, на другом прессе, в другой пресс-форме и при другом текстурирующем магнитном поле. [33]
![]() |
Расположение электродов на образце. [34] |
Поверхность образца должна быть ровной, гладкой, без вмятин, трещин и царапин. Материал не должен иметь посторонних включений. При необходимости поверхность образца очищают растворителем, не влияющим на свойства материала, и тщательно просушивают. Толщину образца определяют как среднее арифметическое результатов измерений ее не менее чем в пяти точках, равномерно распределенных по поверхности. [35]
![]() |
Образцы твердых изоляционных материалов. [36] |
Поверхности образцов не должны иметь видимых короблений, препятствующих плотному прилеганию электродов, трещин, сколов, вмятин, царапин, загрязнений. Плоскости образцов должны быть параллельными. Механическая обработка образцов не должна влиять на их свойства. [37]
![]() |
Схема расположения электродов на образце.| Держатель для образца с электродами. [38] |
Поверхность образца должна быть чистой; пыль, влага, отпечатки пальцев могут исказить результаты испытаний. [39]
![]() |
Прибор для создания дефектов на поверхности образцов. [40] |
Поверхности образцов должны быть полированными, хотя в. [41]
![]() |
Скорость коррозии сплава АМг2. [42] |
Поверхность образцов из сплавов АМг5В и АМгб характеризуется примерно одинаковой интенсивностью разъедания, но тоже большей, чем у сплава АМг2; точечные поражения вытянуты вдоль направления прокатки. [43]
Поверхность образцов после выдержки в СМВ характеризуется более интенсивной точечной коррозией, чем в СПВ. Ход кривой зависимости скорости коррозии сплава АМц от температуры в СМВ аналогичен таковому для СПВ. Однако образцы из этого сплава подвергаются в СМВ опасному язвенному разрушению: за 360 ч при 45 С образуются язвы диаметром 1 5 мм и глубиной 0 4 - 0 6 мм. [44]
Поверхность образцов очищают, промывая водой и протирая травяной щеткой, сушат фильтровальной бумагой, осматривают снаружи и определяют толщину полученных диффузионных покрытий для лучшего ( по внешнему виду) образца из каждого реактора. [45]