Cтраница 1
Поверхность измеряемого образца шлифуют и полируют1, а при необходимости подвергают травлению реактивами, применяемыми для микроанализа соответствующих сплавов. [1]
![]() |
Схема прибора ПМТ-3 для измерения микротвердости.| Схема измерения отпечатков на приборе микротвердости. [2] |
Поверхность измеряемого образца шлифуют и полируют, а при необходимости подвергают травлению реактивами, применяемыми для микроанализа соответствующих сплавов. [3]
![]() |
Схема соединения приборов для измерения объемного сопротивлении.| Схема соединения приборов для измерения поверхностного сопротивления. [4] |
Как видно из схемы, через гальванометр проходит тот же ток что и по поверхности измеряемого образца. [5]
![]() |
Схема соединения приборов для измерения объемного сопротивления.| Схема соединения приборов для измерения поверхностного сопротивления. [6] |
Как видно из схемы, через гальванометр проходит тот же ток, что и по поверхности измеряемого образца. Объемный ток от электрода В отводится к отрицательному полюсу источника питания. [7]
![]() |
Схема пневматического микрометра. [8] |
Достоинством метода пневматического микрометрирования является то, что он позволяет производить измерения износа без контакта между измерителем и поверхностью измеряемого образца, без остановки испытательной машины и демонтажа образцов, а также дает возможность осуществлять автоматическую регистрацию износа в процессе испытания. [9]
![]() |
Схема соединения приборов для измерения поверхностного сопротивления.| Схема измерения весьма больших сопротивлений при помощи баллистического гальванометра. [10] |
Схема соединения приборов для измерения поверхностного сопротивления приведена на рис. 3.70. Как видно из схемы, через гальванометр проходит тот же ток, что и по поверхности измеряемого образца. [11]
Схема установки для измерения диффузионной длины показана на рис. 3.7. Световой поток от источника света проходит через светофильтр Ф и с помощью оптической системы ОС фокусируется в виде узкой полоски на поверхности измеряемого образца. Ширина световой полосы регулируется щелевой диафрагмой Д в пределах 50 - 500 мкм. Использование модулированного освещения позволяет выделить часть коллекторного тока, которая обусловлена диффузией неравновесных носителей заряда. [12]
![]() |
Схема прибора ПМТ-3 для измерения микротвердости. [13] |
В приборе применяют грузы от / до 200 г в зависимости от особенностей изучаемой структуры и задач исследования. Поверхность измеряемого образца шлифуют и полируют, а при необходимости подвергают травлению реактивами, применяемыми для микроанализа соответствующих сплавов ( см. табл. 4), Подготовленный образец ( микрошлиф) устанавливают на столе 8 так, чтобы исследуемая поверхность была параллельна плоскости столика и обращена вверх. При испытании образцов сложной формы это достигается предварительной установкой образца в пластилин и выравниванием положения шлифуемой поверхности образца ручным прессом. [14]
Конструкция катушки ( датчика) зависит от фэрмы и измеряемых параметров образца. Для контроля свойств монокристаллов, имеющих форму стержней круглого сечения, применяют проходные катушки. Большей универсальностью обладают накладные катушки, которые располагают на поверхности измеряемого образца. [15]