Поверхность - объект
Cтраница 3
При исследовании поверхности объекта большой протяженности или большой площади решается задача панорамного сканирования, когда вся поверхность объекта разбивается на отдельные участки, и каждый из них обследушея в отдельности, после чего требуется получить общую картину поверхности сканирования. Задача создания единого образа поверхности на основании принятых рабочих растров - его компонентов - во многом определяется видом и техническими характеристиками видеосистемы. [31]
 |
График зависимости относительной видимости рельефных объектов от угла падения светового потока на рабочую поверхность. [32] |
Создание на поверхностях объектов различения или поверхности фона зеркального отражения светящей поверхности светильника, что достигается выбором соответствующих размера и расположения светильника относительно рабочего места. [33]
 |
Изменение видности интер-ферограммы поперечного сдвига вдоль области ее локализации ( сплошная линия - теория, точки - - эксперимент. [34] |
Предположим, что поверхность объекта, имеющая прямоугольную форму со стороной а вдоль оси х, была освещена при экспонировании равномерно, а амплитудный коэффициент отражения постоянен по всей поверхности. [35]
При отражении от поверхности объектов, диффузно рассеивающих свет, опорный пучок света имеет эллиптическую поляризацию, часто близкую к круговой. При этом, как видно из рис. 115, происходит значительное снижение глубины модуляции света, которое можно уменьшить, применяя эллиптическую поляризацию опорного пучка вместо линейной. [37]
 |
Диаграмма растяжения стали. [38] |
Термоиндикаторы наносятся на поверхность объекта исследования в виде тонкой пленки. [39]
 |
Схема неразрушающего контроля. [40] |
Любая зона на поверхности объекта контроля характеризуется специфическим распределением амплитуд отдельных пикселей; таким образом, каждая зона может быть отнесена либо к классу дефектных, либо бездефектных зон. Результатом классификации являются бинарные карты дефектов. [41]
 |
Спектральное распределение энергетической светимости тел. [42] |
Температурное поле на поверхности объекта контроля характеризуется спектральной плотностью излучения или спектральной энергетической светимостью, достаточно точно описываемой законом Планка, распространенным на реальные объекты, имеющие фиксированный коэффициент излучения. [43]
Фон поверхности - бездефектная поверхность объекта контроля, обработанная дефектоскопическими материалами. [44]
В рассмотренных примерах поверхности объекта и рабочих элементов схвата призматические или цилиндрические с параллельными образующими; контакт осуществляется по образующим. В таких случаях в плоскости, перпендикулярной образующим, рассматривается плоская задача, а об образующих говорится как о точках. [45]
Страницы: 1 2 3 4