Рассеивающая поверхность

Cтраница 1

Рассеивающая поверхность встречается также и в игре шофер-убийца. Если Е находится прямо позади Р и на достаточно большом расстоянии от него, каждый игрок имеет пару оптимальных стратегий; Р, например, должен выбирать между поворотами с максимальной кривизной вправо или влево. [1]

Размер рассеивающей поверхности в этом случае оказывает влияние лишь на абсолютное значение средней интенсивности рассеянного излучения. [2]

Могут существовать рассеивающие поверхности, которые не требуют мгновенных смешанных стратегий. Когда х находится на рассеивающей поверхности, один из игроков может столкнуться с выбором оптимальной стратегии, но для другого оптимальная стратегия единственна. [3]

Если размеры рассеивающей поверхности малы по сравнению с расстоянием R от этой поверхности, то для определения приближенных значений интенсивности рассеянного у-излучения на различных расстояниях R может быть использован закон обратных квадратов. Для вычисленной кратности ослабления k и указанной выше энергии рассеянного излучения по таблицам 7.9 - 7.12 находят необходимую толщину защитного экрана от рассеянного у-излучения. [4]

Некоторые - простые конструкции постоянных магнитов. [5]

Расстояние между рассеивающими поверхностями должно быть возможно большим, а их площади наименьшими. В конструкции магнита, представленного на рис. 142, б, поверхности рассеяния находятся при высокой разности магнитных потенциалов. [6]

При диффузно рассеивающих поверхностях коэффициент отражения можно определить с помощью серой или цветной шкалы образцов, интегральные коэффициенты отражения которых проверены в фотометрической лаборатории. [7]

К использованию концепции дифференциального альбедо ( азимутальные углы рассеяния ф для простоты на рисунке не показаны. [8]

Spac - площадь рассеивающей поверхности, видимая из точки детектирования; ач - дифференциальное числовое альбедо тонкого луча; остальные обозначения ясны из рис. 12.4. Заметим, что при таком расчете учитывается только однократное отражение от стенок канала и предполагается, что излучение покидает рассеиватель в той же области, где входит в него. Когда эти предположения недостаточно справедливы, следует уточнить расчеты учетом второго отражения и размытия источников обратно рассеянного излучения по поверхности отражателя. [9]

Фотоснимок спекл-интерферо-граммы, соответствующей жесткому смешению объекта в собственной плоскости.| Получение спеклограммы с двусторонним освещением ( j н с фильтрацией в плоскости линзы с помощью двух разнесенных отверстий ( б. 1 - освещаемый объект, 2 - плоскость наблюдения, 3 - экран с двумя малыми отверстиями, Л - линза. [10]

Применения спекл-интер-ферометрии для измерения смещения рассеивающей поверхности основаны на том, что два положения згой поверхности играют роль двух плеч некоего эквивалентного интерферометра типа Майкельсона. Конкретные схемы получения двукратно экспонированных спеклограмм могут быть реализованы в нескольких вариантах, в зависимости от того, как ставится задача измерения смещения. [11]

Фотоснимок продольной структуры спеклов. возникающей при отражении сфокусированного лазерного пучка от диффузно рассеивающей поверхности ( 206 ]. [12]

В случае образования объективной спекл-картины диффузно рассеивающая поверхность обычно освещается пучком круглого ( или почти круглого, если пучок падает наклонно) сечения. [13]

За 1 апостильб принимается яркость белой рассеивающей поверхности с освещенностью в 1 люкс. Применение этой величины в фотографии объясняется удобством расчетов. При этом яркость любой рассеивающей поверхности определяется путем умножения величины ее освещенности в люксах на коэффициент отражения. [14]

Два семейства этих траекторий пересекаются на рассеивающих поверхностях. [15]

Страницы: 1 2 3 4