Cтраница 2
Отражательные решетки выполняются обычно на заготовках в виде длинных линеек и имеют большую ширину заштрихованной поверхности при коротких штрихах. Прозрачные решетки в большинстве случаев малых размеров и представляют собой копии отражательных решеток специальной нарезки. В измерительном устройстве одна из решеток комплекта устанавливается неподвижно на станине, а вторая на элементе, перемещение которого измеряется. Источником света служит лампа накаливания, и муаровые полосы наблюдаются в сплошном спектре визуально или фотоэлектрически. В качестве объектива коллиматора можно использовать простую линзу, поскольку требование к параллельности интерферирующих пучков определяется в основном размерами фотоприемника. [16]
Этот вид ошибки характеризуется изменением постоянной решетки без определенной закономерности на отдельных сравнительно небольших участках заштрихованной поверхности. Таких дефектных участков в общем случае может быть много, причем они произвольно распределены по ширине решетки. Влияние этой ошибки на качество спектрального изображения зависит от величины ее и площади дефектных участков, но не поддается точному учету. Обычно она приводит к уширению спектральных линий и появлению вблизи них рассеянного света в направлении дисперсии в виде непрерывного фона или спутников. [17]
Схема дифракции на эшелле. [18] |
Для примера рассмотрим эшелле, имеющую 12 штрихов на 1 мм, i 60, размер заштрихованной поверхности 200x200 мм. [19]
Следовательно, величины тв и тн всегда имеют различные знаки, а величина т представлена суммой заштрихованных поверхностей диаграммы, сложенных алгебраически. [20]
В зависимости от области спектра и условий применения изготавливаются решетки, имеющие от нескольких штрихов на один миллиметр заштрихованной поверхности до 1200 штрихов на миллиметр. Общее число штрихов решетки доходит до 100 000 и выше. [21]
При сборке уплотнения рабочая поверхность вкладыша тщательно пришабривается к диску на валу ротора до получения прилегания к диску всей заштрихованной поверхности без зазора. [22]
Изменение концентрации.| Изменение выходной кривой для слоя смолы амберлит IR-120 в различных ионообменных циклах. [23] |
Если происходит изменение концентрации в регенерате, показанное на рис. 1, б, то регенерация должна продолжаться до той точки, в которой заштрихованная поверхность на рис. 1, б соответствует уровню насыщения. [24]
Анализ чертежа показывает следующее: более 50 % от общего числа линий составляют линии длиной до 10 мм, наличие косой штриховки с расстояниями 3 мм и заштрихованной поверхностью до 50 % площади, занимаемой элементами чертежа. По двум факторам чертеж относится к показателю сложности IV и по одному - к показателю сложности III. В соответствии с табл. 8.10, данный чертеж относится к III показателю сложности. [25]
Отсутствие соответствующих данных делает, понятно, невозможным нанесение границ предположенной зоны отрицательного температурного коэффициента, и потому-то ее расположение внутри области самовоспламенения, которое указано на рис. 138 в виде заштрихованной поверхности, является сугубо условным. [26]
Графическое определение работы замкнутого цикла. [27] |
Поскольку после возвращения в исходное состояние параметры рабочего тела те же, что и вначале, Дыг Ды2 и q1 - цг - lt - - 1г I, где / - работа замкнутого цикла, равная разности работ расширения на участке АСВ и сжатия на участке BDA, и определяемая площадью заштрихованной поверхности ACBDA. Очевидно, / 0, если направление обхода кривой процесса осуществляется по часовой стрелке при положении осей, указанном на рис. 80, и / 0, если направление обхода противоположно. [28]
В общем случае кривые взаимно пересекаются. Заштрихованная поверхность содержит множество значений D, удовлетворяющих условиям прочности, жесткости и устойчивости. Оптимальные по материалоемкости размеры стойки, очевидно, будут лежать на указанных отрезках кривых. [29]
ВМ, CM, CN и BN соответствуют температурам плавления чистых солей. Нижние заштрихованные поверхности отвечают растворам, находящимся в равновесии с одной из солей и льдом. Политермная диаграмма наглядно изображает сущность понятий точки инверсии, интервала превращения и др., разобранных выше. Эти понятия тесно связаны с характером соприкосновения полей кристаллизации отдельных солей, составляющих взаимную пару. [30]