Выбранная поверхность

Cтраница 4

Чертежи даны для контрольных образцов без покрытий. Покрытие наносится, на изготовленные образцы на выбранные поверхности. [46]

Описанная система определения погрешности показаний профило-метров, в известной мере, аналогичная той, которая принята у обычных приборов для линейных измерений, за рубежом не нашла еще распространения. Ее повсеместное использование связано с международным узаконением выбранных поверхностей в качестве образцовых мер. [47]

График для опреде. [48]

Если полученная расчетом температура газов на перевале значительно отличается от ранее принятой, то - следует произвести перерасчет. Завышенная или заниженная температура свидетельствует о том, что выбранная поверхность радиантных труб мала или велика. [49]

График для определения коэффициента теплоотдачи свободной конвекцией. [50]

Если полученная расчетом температура газов на перевале значительно отличается от ранее принятой, то следует произвести перерасчет. Завышенная или заниженная температура свидетельствует о том, что выбранная поверхность радиантных труб мала или велика. [51]

Ни в какой другой точке жидкости не может быть перемены знака корня. Тогда можно представить себе, что из каждого элемента выбранной поверхности с обеих ее сторон жидкость вытекает или поглощается. [52]

В этом случае определяют производительность одного фильтра с заданной или выбранной поверхностью фильтрования и устанавливают число фильтров, необходимых для обеспечения общей производительности установки. Общий ход расчета следующий. [53]

Измерение высоты столба жидкости, соответствующей пластовому давлению, может производиться от любой произвольной поверхности. Для приведения высоты ( и соответствующего ему давления) берут разницу между условной выбранной поверхностью и статическим уровнем столба жидкости, уравновешивающего данное давление. Удельный вес жидкости принимают равным единице независимо от действительного удельного веса жидкостей, заполняющих пласт или пласты. [54]

Следующий этап начинается с расчета рассеяния электронов всей ровокупностью атомов кристалла. Для решения этой задачи удобно представить себе, что кристалл состоит из слоев атомов, параллельных выбранной поверхности. Простой кристалл может быть представлен как пачка идентичных слоев, где соседние слои связаны друг с другом через трансляцию, параллельную поверхности. Более сложные кристаллы могут помимо тех слоев, которые связаны трансляцией, содержать несколько типов слоев. В результате, задача расчета эффектов многократного рассед гая может быть разбита на две части. Первая состоит в том, чт ( эбг1шчислить амплитуды и фазы всех лучей, возникающих при падении какой-либо плоской волны на один слой. Этот расчет должен - вТшочать все процессы многократного рассеяния, происходящие между атомами внутри слоя. В результате этого расчета находится матрица отражения и матрица прохождения для данного слоя. На второй стадии все слои должны быть составлены в единый кристалл, и лучам должно быть разрешено двигаться между слоями, отражаться от них и проходить сквозь них как вглубь кристалла, так и в направлении к поверхности кристалла. [55]

Страницы: 1 2 3 4