Cтраница 1
![]() |
Установка штифтов регулируемой. [1] |
Измеряемая поверхность и самый калибр должны быть чистыми. Та часть детали, которая подлежит измерению, должна быть очищена от заусенцев, стружки, грязи. [2]
![]() |
Установка штифтов регулируемой измерению, должна. [3] |
Измеряемая поверхность и самый калибр должны быть чистыми. [4]
Измеряемые поверхности и измерительные плоскости микрометра необходимо тщательно очищать от грязи и пыли, насухо вытирая их чистой салфеткой. Нельзя долго держать микрометр в руках и измерять им нагретые детали. [5]
Первоначально измеряемую поверхность устанавливают в горизонтальное положение, затем одну из головок помещают на первую проверяемую точку поверхности, вторую головку - последовательно на все остальные проверяемые точки и каждый раз снимают отсчеты по микровинтам. По разности отсчетов определяют значение отклонений от прямолинейности или плоскостности. [6]
Если измеряемая поверхность цилиндрическая, то применяют ножевидный плоский наконечник, причем длинную сторону его располагают перпендикулярно к образующей цилиндрической поверхности. [7]
Если измеряемая поверхность имеет размеры, большие, чем наблюдаемая фотометром площадка, и если эта поверхность имеет постоянную яркость, то показания фотометра окажутся вообще не зависимыми от его расстояния до измеряемой поверхности. [8]
Качество измеряемой поверхности влияет на выбор типа и конструкции измерительного инструмента. Так как грубо обработанные поверхности обычно не подвергаются точным измерениям, то применять для их измерения точный инструмент не следует. [9]
Размер измеряемой поверхности влияет на выбор размера измерительного инструмента. [10]
Качество измеряемой поверхности влияет на выбор типа и конструкции измерительного инструмента. Та к4 - как грубо обработанные поверхности обычно не подвергаются точным измерениям, то применять для их измерения точный инструмент не следует. [11]
Качество измеряемой поверхности влияет на выбор конструкции и типа измерительного инструмента. [12]
С измеряемой поверхности делают реплику, а с реплики, оттененной хромом - снимки на электронном микроскопе, по которым определяются размеры отпечатков. [13]
На измеряемую поверхность под некоторым углом проектируется изображение световой щели осветительного тубуса двойного микроскопа. Проекция щели на поверхности рассматривается через второй наблюдательный тубус двойного микроскопа. [14]
![]() |
Профилограф модели ПЧ-2. а - общий вид, б - схема работы датчика. [15] |