Аппаратурный анализ

Cтраница 1

Аппаратурный анализ и особенно аппаратурный спектральный анализ физических процессов находят все большее применение в научных исследованиях и при проектировании радиоэлектронных, информационных, управляющих и других систем. [1]

Аппаратурный анализ ускоряет и снижает стоимость натурных исследований, так как однажды полученные аппаратурные характеристики реальных физических процессов многократно применяют для оценки их воздействия на разные исполняющие системы. Аппаратурный анализ включает собственно анализ ( измерение аппаратурных характеристик реальных физических процессов) и вычисление результата их воздействия на исполняющие системы по измеренным - аппаратурным характеристикам процессов и характеристикам систем. [2]

Аппаратурный анализ является существенной частью экспериментальных исследований для оценки характеристик реальных сигналов и помех. [3]

Структурная схема электронного импульсного ваттметра. [4]

Аппаратурный анализ проводят с помощью специальных приборов - анализаторов спектра. Преимущественно применяют анализаторы, осуществляющие метод фильтрации. Основной элемент таких приборов - полосов. [5]

Аппаратурный анализ процессов возможен в реальном времени, поскольку нет необходимости изучать весь процесс в пределах от - оо до оо. В этом смысле аппаратурный спектральный анализ лучше, чем аналитические исследования, описывает воздействие физического процесса на исполняющую систему, поскольку весовые временные функции исполняющих систем обычно кратковременны. [6]

Аппаратурный анализ случайных процессов, основанный на разложении Фурье - Уол-ша. [7]

Аппаратурный анализ инфранизкочастотных процессов наряду с техническими трудностями создания элементов схемы приборов связан со значительными затратами времени. Так, если А / / / 0 05 и / 0 01 Гц, то время установления процесса близко к 30 мин. В этих случаях применяют численный анализ. [8]

Аппаратурный анализ высших гармоник является более предпочтительным, чем осциллографирование и последующее разложение кривых в гармонический ряд. [9]

Аппаратурный анализ случайных процессов, основанный на разложении Фурье - Уол-ша. [10]

Осуществить аппаратурный анализ случайных процессов трудно, поскольку для корректного определения любых характеристик случайного процесса нужен ансамбль реализаций. В натурных условиях ансамбля реализаций нет, а есть мало или даже одна реализация. [11]

Цель аппаратурного анализа не только исследование физических процессов: результаты анализа позволяют оценить воздействие исследуемых сигналов и помех на исполняющие системы. Во введении принято, что, не нарушая общности, при изучении аппаратурного анализа можно ограничиться рассмотрением воздействия электрических напряжений на электрические цепи, моделирующие исполняющие системы. [12]

Условия аппаратурного анализа при этом существенно различны. Основное различие вызвано тем, что при эксплуатации исполняющих систем время анализа должно быть минимальным, определяемым тактико-техническими или экономическими требованиями. Например, существенное увеличение времени аппаратурного анализа, необходимого для выделения принимаемых сигналов на фоне помех, часто исключает возможность применения таких исполняющих систем, в которых время обнаружения объекта больше времени его приближения к станции обнаружении. Для получения исходных данных при проектировании исполняющих систем требования к времени анализа не столь жестки и нужное число реализаций, необходимых для статистически надежных результатов, выбирают обычно исходя из экономических соображений. [13]

При аппаратурном анализе нужно найти регулярные функции a ( t) и b ( t) и характеристики ССП ei ( 0 и 8а ( 0 - На модели (1.30) можно продемонстрировать различия характеристик НСП, найденных осреднением по ансамблю и одной реализации во времени. Характеристики НСП, найденные осреднением во времени, будут существенно зависеть от законов ( скоростей) изменения процессов a ( t), b ( t), e i ( t), e z ( t) и длительности осред-няемого участка реализации. [14]

При теоретическом и аппаратурном анализе случайных процессов широко используются понятия интервала корреляции. [15]

Страницы: 1 2 3 4