Cтраница 2
Для расширения диапазона частот напряжений, которые можно исследовать с помощью обычной ЭЛТ без существенных искажений, необходимо уменьшать пролетное время электронов. Этого можно достичь уменьшением длины пластин и повышением ускоряющего напряжения, но и то и другое приводит к уменьшению чувствительности ЭЛТ. [16]
Рабочее пространство теряет свойство проводить только эмиссионный ток электронов и становится как бы элементом электрической цепи, которая характеризуется определенным сопротивлением, непрерывно меняющимся по величине в широких пределах. Действие пространственного заряда может быть уменьшено при повышении ускоряющего напряжения, которое также имеет предел. Нагрев производится медленно для того, чтобы вакуумная система могла освободить рабочее пространство от выделяющихся газов. [17]
Как было указано, обычные осциллографические трубки позволяют исследовать периодические процессы с частотами до нескольких десятков мегагерц. Расширение частного диапазона достигается сокращением пролетного времени электронов в отклоняющих системах за счет повышения ускоряющего напряжения и уменьшения длины отклоняющих пластин. Кроме того, для уменьшения емкостей и индуктивностей вводы отклоняющих пластин делают не в общий цоколь, а непосредственно в горловину трубки в виде коротких толстых прямых отрезков проволоки, впаянных в стекло горловины против каждой отклоняющей пластины. [18]
Если напряжение анода трубки становится большим UR, а коэффициент вторичной эмиссии меньшим единицы, то в результате накопления зарядов на экране его потенциал становится равным UB и электроны луча на пути от анода до экрана тормозятся до скорости, соответствующей этому потенциалу. Следовательно, дальнейшее увеличение анодного напряжения не повышает энергию приходящих на экран электронов и яркость свечения экрана. Величина потенциала UB, зависящая от свойств люминофора и называемая предельным потенциалом люминофора, ограничивает возможность увеличения яркости свечения экрана за счет повышения ускоряющего напряжения. [19]
Имеющиеся литературные данные по этому вопросу [3] из области медицины показывают, что для малых дефектов при увеличении напряжения от 60 до 160 кв контраст уменьшается примерно в 1 3 раза. Кроме того, из практики контроля качества изделий с использованием проникающих излучений изотопов хорошо известно, что для контроля изделий одной и той же толщины может быть использовано несколько радиоактивных источников с различной энергией излучения. Получаемые при этом снимки примерно одинаковы по чувствительности ( а следовательно, и по коэффициенту контраста), хотя энергия излучения применяемых изотопов далеко не одинакова. Все это свидетельствует о том, что повышение ускоряющего напряжения на рентгеновской трубке в 1 5 - 2 раза против оптимального для просвечивания конкретной толщины не играет существенной роли при использовании флюороскопии для визуализации технологических процессов. [20]
В последующих работах указанных исследователей эти выводы были подвергнуты дополнительному уточнению. Ими было показано влияние условий проведения эксперимента, в частности интенсивности электронного пучка, на характер получаемой электронограммы. Существенное значение имеет и толщина облучаемой пленки: при ее увеличении уменьшается влияние диффузного фона. В зависимости от условий съемки ( изменение ширины пучка, интенсивности облучения, толщины пленки, величины и стабильности ускоряющего напряжения) были получены электронограммы гидратцеллюлозной пленки, подтверждающие ее аморфную или кристаллическую структуру. Так, например, при ускоряющем напряжении 45 / св и ширине пучка 2 10 - 3радиан получалась электронограмма аморфной пленки; при повышении ускоряющего напряжения до 100 Кб и уменьшении ширины пучка до 2 - 10 - 4 радиан на электронограмме той же пленки появляются отчетливые интерференции кристаллического полимера. [21]
В последующих работах указанных исследователей эти выводы были подвергнуты дополнительному уточнению. Ими было показано влияние условий проведения эксперимента, в частности интенсивности электронного пучка, на характер получаемой электронограммы. Существенное значение имеет и толщина облучаемой пленки: при ее увеличении уменьшается влияние диффузного фона. В зависимости от условий съемки ( изменение ширины пучка, интенсивности облучения, толщины пленки, величины и стабильности ускоряющего напряжения) были получены электронограммы гидратцеллюлозной пленки, подтверждающие ее аморфную или кристаллическую структуру. Так, например, при ускоряющем напряжении 45 кв и ширине пучка 2 - 10 - 3радиан получалась электронограмма аморфной пленки; при повышении ускоряющего напряжения до 100 Кб и уменьшении ширины пучка до 2 10 - 4 радиан на электронограмме той же пленки появляются отчетливые интерференции кристаллического полимера. [22]