Повышение - разрешение - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
В жизни всегда есть место подвигу. Надо только быть подальше от этого места. Законы Мерфи (еще...)

Повышение - разрешение

Cтраница 1


Повышение разрешения приобретает особую значимость в корреляционной 2М - спектроскопии, где мультиплеты, содержащие кросс-пики, появляются в противофазе по обеим размерностям и обращаются в нуль, если разрешение вдоль какой-либо оси недостаточно высоко. Во временной области соответствующие этим мультиплетам компоненты сигнала пропорциональны 5т ( тгЛЛ) 5т ( тгЛ 2) ( см. разд. Следовательно, их вклад в амплитуду кросс-пика при малых ti и h незначителен.  [1]

Повышение разрешения в методе отражения высокого порядка сопровождается некоторой потерей контраста, поэтому использовать отражения очень высокого порядка становится нецелесообразным.  [2]

Повышение разрешения при боковом обзоре можно рассматривать как результат сжатия ДНА при оптимальной обработке ( аналогично сжатию импульса с внутриим-пульсной модуляцией) или как формирование диаграммы синтезированной антенной решеткой, образующейся при перемещении антенны РЛС относительно облучаемой поверхности.  [3]

Повышение разрешения приобретает особую значимость в корреляционной 2М - спектроскопии, где мультиплеты, содержащие кросс-пики, появляются в противофазе по обеим размерностям и обращаются в нуль, если разрешение вдоль какой-либо оси недостаточно высоко. Во временной области соответствующие этим мультиплетам компоненты сигнала пропорциональны 5т ( тгЛЛ) 5т ( тгЛ 2) ( см. разд. Следовательно, их вклад в амплитуду кросс-пика при малых ti и h незначителен.  [4]

Механизм повышения разрешения по методу отражения высокого порядка дает динамическая теория для многолучевой дифракции.  [5]

С повышением разрешения, структурной целостности изображения происходит общее сокращение количества гипотез ( алфавита эталонов) на данном уровне.  [6]

7 Фотография объективных спеклов.| Схема образования объективной спенл-структу-ры. Л - лазер. РП - рассеивающая поверхность. 8 - точка наблюдения.| Схема образования субъективной спекл-структу-ры ( структуры изображения. Л - лазер. РП - рассеивающая поверхность. L - линза. S - точка изображения.| Гало дифракции с полосами Юнга. [7]

С целью повышения разрешения в оптическом в ПК-диапазонах создаются интерферометры, образованные независимыми телескопами с базами в десятки и сотни метров.  [8]

С целью повышения лучевого разрешения для нужд дефектоскопии применяется многочастотная голография.  [9]

Для усиления контраста и повышения разрешения электронно-микроскопического изображения применяют также зонные диафрагмы, которые отсекают часть волновой поверхности, искаженной сферической аберрацией.  [10]

Как следует из (7.5), повышение разрешения объективов связано с увеличением их числовой апертуры, а поскольку AD / 2f, где D - диаметр линзы, f - фокусное расстояние, то и с уменьшением их фокусного расстояния.  [11]

Увеличение времени удерживания, сопровождаемое повышением разрешения, приводит к увеличению как числителя, так и знаменателя в уравнении (4.31) s так что колебания между высокими и низкими значениями менее вероятны.  [12]

В то же время если для повышения разрешения интерференционного спектрофотометра нужно понизить геометрический фактор, то порядок подбора условий точно такой же, как и для дифракционного спектрофотометра.  [13]

14 Весовая функция для повышения разрешения, содержащая в себе аподиза-ционное окно Хэнниига для подавления пульсаций. [14]

Ниже мы рассмотрим некоторые широко применяемые функции повышения разрешения. Обсуждать подробно более ранние методы, такие как интегродифференциальный метод [4.46], мы не будем.  [15]



Страницы:      1    2    3